[發明專利]一種用于熒光儀器校準測量的校準基片及其制備方法有效
| 申請號： | 200410069327.0 | 申請日： | 2004-07-16 |
| 公開（公告）號： | CN1588006A | 公開（公告）日： | 2005-03-02 |
| 發明（設計）人： | 葛玥;楊文軍;趙淑英;郭良宏;程京 | 申請（專利權）人： | 北京博奧生物芯片有限責任公司;清華大學 |
| 主分類號： | G01N21/64 | 分類號： | G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京紀凱知識產權代理有限公司 | 代理人： | 關暢 |
| 地址： | 102206北*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 熒光 儀器 校準 測量 及其 制備 方法 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京博奧生物芯片有限責任公司;清華大學，未經北京博奧生物芯片有限責任公司;清華大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200410069327.0/2.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
