[發(fā)明專(zhuān)利]時(shí)間分辨光電子放大X射線顯微鏡無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200410067780.8 | 申請(qǐng)日: | 2004-11-03 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN1603805A | 公開(kāi)(公告)日: | 2005-04-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳建文;高鴻奕;朱化鳳;干慧菁;李儒新;徐至展 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N23/083 | 分類(lèi)號(hào): | G01N23/083;G01N23/04;H05G1/02 |
| 代理公司: | 上海新天專(zhuān)利代理有限公司 | 代理人: | 張澤純 |
| 地址: | 201800上*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 時(shí)間 分辨 光電子 放大 射線 顯微鏡 | ||
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
- 時(shí)間同步裝置、時(shí)間同步系統(tǒng)和時(shí)間同步方法
- 時(shí)間校準(zhǔn)裝置和時(shí)間校準(zhǔn)方法
- 時(shí)間同步系統(tǒng)及時(shí)間同步方法
- 時(shí)間同步方法、時(shí)間同步系統(tǒng)、時(shí)間主設(shè)備以及時(shí)間從設(shè)備
- 時(shí)間控制裝置和時(shí)間控制方法
- 時(shí)間測(cè)試電路及時(shí)間測(cè)試方法
- 時(shí)間的飛行時(shí)間
- 局部激活時(shí)間的時(shí)間變換
- 時(shí)間測(cè)量電路、時(shí)間測(cè)量芯片及時(shí)間測(cè)量裝置
- 時(shí)間同步方法與時(shí)間同步系統(tǒng)





