[發(fā)明專利]可調(diào)多次反射光學(xué)吸收的方法及裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200410065013.3 | 申請(qǐng)日： | 2004-10-16 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN1699971A | 公開(kāi)（公告）日： | 2005-11-23 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 陳軍;王亞萍;董鳳忠;劉文清;劉建國(guó);高閔光;魏慶農(nóng);陸亦懷;張玉鈞;闞瑞峰;高山虎;方武 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 中國(guó)科學(xué)院安徽光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類號(hào)： | G01N21/35 | 分類號(hào)： | G01N21/35 |
| 代理公司： | 合肥華信專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 230031*** | 國(guó)省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 可調(diào) 多次 反射 光學(xué) 吸收 方法 裝置 | ||
【權(quán)利要求書(shū)】：
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- 專利分類
G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
