[發明專利]接合阻抗測量方法與測量結構有效
| 申請號： | 200410059781.8 | 申請日： | 2004-06-22 |
| 公開（公告）號： | CN1712975A | 公開（公告）日： | 2005-12-28 |
| 發明（設計）人： | 何樹林;王世杰 | 申請（專利權）人： | 瀚宇彩晶股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R27/02 | 分類號： | G01R27/02;G02F1/133 |
| 代理公司： | 隆天國際知識產權代理有限公司 | 代理人： | 臧建明;王玉雙 |
| 地址： | 臺灣省*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 接合 阻抗 測量方法 測量 結構 | ||
【權利要求書】：
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