[發(fā)明專利]具有一非易失性內(nèi)存的集成電路及其制造方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200410055708.3 | 申請(qǐng)日: | 2004-07-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN1577801A | 公開(kāi)(公告)日: | 2005-02-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 丁逸 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 臺(tái)灣茂矽電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/822 | 分類號(hào): | H01L21/822;H01L21/8234;H01L21/28;H01L21/8239;H01L27/105;H01L29/788 |
| 代理公司: | 隆天國(guó)際知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 王玉雙;高龍?chǎng)?/td> |
| 地址: | 臺(tái)灣*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 一非易失性 內(nèi)存 集成電路 及其 制造 方法 | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于臺(tái)灣茂矽電子股份有限公司,未經(jīng)臺(tái)灣茂矽電子股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200410055708.3/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在非易失性高速緩沖存儲(chǔ)器中的設(shè)備和方法
- 抑制寄生電荷積累的非易失性存儲(chǔ)器件及其操作方法
- 非易失性存儲(chǔ)門(mén)及其動(dòng)作方法、及非易失性存儲(chǔ)門(mén)裝入型邏輯電路及其動(dòng)作方法
- 非易失性數(shù)據(jù)備份和恢復(fù)方法
- 一種預(yù)測(cè)非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)發(fā)生故障的方法及裝置
- 易失性/非易失性SRAM器件
- 半導(dǎo)體器件及其操作方法
- 具有非易失性邏輯陣列備份相關(guān)應(yīng)用的處理裝置
- 基于一對(duì)多頁(yè)面映射的非易失內(nèi)存數(shù)據(jù)一致性更新方法
- 一種非易失性數(shù)據(jù)的讀寫(xiě)方法及裝置





