[發明專利]印章核對裝置、印章核對方法及印章核對程序有效
| 申請號： | 200410037350.1 | 申請日： | 2004-04-27 |
| 公開（公告）號： | CN1622119A | 公開（公告）日： | 2005-06-01 |
| 發明（設計）人： | 稻岡秀行;岸野琢已;勝又裕 | 申請（專利權）人： | 富士通株式會社;富士通先端科技 |
| 主分類號： | G06K9/46 | 分類號： | G06K9/46;G06K9/62;G06F17/00;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 | 代理人： | 趙淑萍 |
| 地址： | 日本神*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 印章 核對 裝置 方法 程序 | ||
【權利要求書】：
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