[發明專利]型面光學測量系統綜合標定方法無效
| 申請號： | 200410018308.5 | 申請日： | 2004-05-13 |
| 公開（公告）號： | CN1570553A | 公開（公告）日： | 2005-01-26 |
| 發明（設計）人： | 嚴雋琪;習俊通;姜濤 | 申請（專利權）人： | 上海交通大學 |
| 主分類號： | G01B11/24 | 分類號： | G01B11/24;G01B11/03;G01B11/00 |
| 代理公司： | 上海交達專利事務所 | 代理人： | 周文娟 |
| 地址： | 200240*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 光學 測量 系統 綜合 標定 方法 | ||
【權利要求書】：
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