[發明專利]測試一個和多個導體組件的適配器無效
| 申請號： | 200380103923.X | 申請日： | 2003-11-25 |
| 公開（公告）號： | CN1714294A | 公開（公告）日： | 2005-12-28 |
| 發明（設計）人： | 曼弗雷德·普羅科普;維克托·羅曼諾夫 | 申請（專利權）人： | 德商·Atg測試系統股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/04 | 分類號： | G01R1/04;G01R31/28;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 | 代理人： | 孫皓晨 |
| 地址： | 德國威爾*** | 國省代碼： | 德國;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試 一個 導體 組件 適配器 | ||
【說明書】：
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