[其他]光學(xué)巖組儀在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 101986000007175 | 申請(qǐng)日: | 1986-11-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN1003738B | 公開(公告)日: | 1989-03-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 朱中一 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 武漢地質(zhì)學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | 分類號(hào): | ||
| 代理公司: | 中國(guó)地質(zhì)大學(xué)(武漢)專利事務(wù)所 | 代理人: | 葛立剛;胡圣虹 |
| 地址: | 武漢市武*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光學(xué) 巖組儀 | ||
本發(fā)明的光學(xué)巖組儀由費(fèi)氏臺(tái)、彩色攝像機(jī)、視頻板、電視監(jiān)測(cè)器、微機(jī)和輸出設(shè)備組成。在費(fèi)氏臺(tái)物臺(tái)上裝有薄片平移器,在費(fèi)氏臺(tái)顯微鏡試板孔中插有一塊萬(wàn)能試板。本發(fā)明采用定量晶體光學(xué)理論計(jì)算和最小二乘法擬合、提高了巖組測(cè)量精度和速度,一般可在20~60分鐘內(nèi)自動(dòng)繪出巖組圖。另外,還可進(jìn)行礦物粒度測(cè)量和百分含量統(tǒng)計(jì)。
一種測(cè)定巖石巖組的光學(xué)巖組儀。
現(xiàn)有測(cè)定巖組的一般方法是顯微鏡測(cè)量、費(fèi)氏臺(tái)測(cè)量和X光-巖組儀測(cè)量。顯微鏡測(cè)巖組,需要兩塊互相垂直的定向薄片,恢復(fù)空間優(yōu)選方位,用肉眼逐粒測(cè)定,測(cè)定一塊巖石薄片需用10小時(shí)左右,只能手工成圖,測(cè)定速度慢。費(fèi)氏臺(tái)測(cè)巖組,需前一塊定向巖石薄片,只能逐一測(cè)量每個(gè)顆粒的空間角度,由于靠肉眼測(cè)量,手工成圖,速度慢,且技術(shù)要求高。X光-巖組儀測(cè)巖組需要一至三塊定向薄片,需要二至三小時(shí),可以手工成圖和計(jì)算機(jī)成圖,儀器價(jià)格昂貴。成都地質(zhì)學(xué)院李之權(quán)等研制成功的JGT型計(jì)算機(jī)光筆式圖象分析儀(見(jiàn)成都地質(zhì)學(xué)院學(xué)報(bào)1982年第四期)由攝像機(jī)、顯微鏡、視頻箱和微機(jī)組成,其動(dòng)能是進(jìn)行礦物粒度測(cè)量和百分含量統(tǒng)計(jì),但不能測(cè)量巖組。
設(shè)計(jì)一種能快速測(cè)定巖組,操作簡(jiǎn)單,測(cè)量精度高能計(jì)算機(jī)成圖的光學(xué)巖組儀是本發(fā)明的目的。
本發(fā)明的光學(xué)巖組儀由費(fèi)氏臺(tái)(1)、彩色攝像機(jī)(2)、視頻板(3)、電視監(jiān)測(cè)器(4)、微機(jī)(5)和輸出設(shè)備(6)連接組成。在費(fèi)氏臺(tái)(1)壓片孔螺絲上安裝有薄片平移器(7),費(fèi)氏臺(tái)(1)顯微鏡試板孔中插有一塊萬(wàn)能試板。其組合關(guān)系是:費(fèi)氏臺(tái)(1)鏡筒頂部口上接彩色攝像機(jī)(2),彩色攝像機(jī)(2)視頻輸出口(17)接視頻板視頻輸入口(18),視頻板(3)視頻輸出口(19)接在電視監(jiān)測(cè)器(4)上,視頻板(3)整體插入微機(jī)(5)總接線槽中,微機(jī)(5)連接輸出設(shè)備(6)。其原理是根據(jù)定量晶體光學(xué)理論把視域內(nèi)的圖象分解成上萬(wàn)個(gè)象素,每個(gè)象素當(dāng)做一個(gè)顆粒,經(jīng)過(guò)彩色攝像機(jī)(2)轉(zhuǎn)變成電視訊號(hào),由視頻板(3)將電視訊號(hào)轉(zhuǎn)變成數(shù)字,再由微機(jī)(5)對(duì)數(shù)字進(jìn)行處理,然后由輸出設(shè)備(6)自動(dòng)繪出巖組圖。
薄片平移器(7)由環(huán)形薄板(8)和U形框架(9)組成,環(huán)形薄板(8)上安有二根固定針(10)和平移螺絲(11),并開有二個(gè)固定孔(12),環(huán)形薄板(8)和U形框架(9)可由金屬或有機(jī)材料一次壓成。萬(wàn)能試板(13)上有三塊試板,第一試板(14)選用石英或石膏材料制成,光程差為550毫微米左右,第二試板(15)選用石膏或白云母材料制成,光程差為1100毫微米左右;第三試板選用方解石材料制成,光程差為2500~3000毫微米左右,上述三個(gè)試板厚度在0.02-0.07毫米之間,萬(wàn)能試板(13)框架可由金屬或有機(jī)材料一次壓成。
附圖1.光學(xué)巖組儀組合示意圖。
附圖2.薄片平移器平面圖。
附圖3.萬(wàn)能試板平面圖。
附圖說(shuō)明:
1.費(fèi)氏臺(tái)
2.彩色攝像機(jī)
3.視頻板
4.電視監(jiān)視器
5.微機(jī)
6.輸出設(shè)備
7.薄片平移器
8.環(huán)形薄板
9.U形框架
10.固定針
11.平移螺絲
12.固定孔
13.萬(wàn)能試板
14.第一試板
15.第二試板
16.第三試板
17.彩色攝像機(jī)視頻輸出口
18.視頻板視頻輸入口
19.視頻板視頻輸出口
實(shí)施例1
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于武漢地質(zhì)學(xué)院,未經(jīng)武漢地質(zhì)學(xué)院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/101986000007175/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類





