[發明專利]二次電子探測器,尤其是掃描電子顯微鏡中的二次電子探測器無效
| 申請號： | 03813724.0 | 申請日： | 2003-06-13 |
| 公開（公告）號： | CN1659679A | 公開（公告）日： | 2005-08-24 |
| 發明（設計）人： | 馬庫斯·卡奇亞;馬丁·扎德拉日爾;菲利普·洛保爾 | 申請（專利權）人： | 泰斯坎公司 |
| 主分類號： | H01J37/244 | 分類號： | H01J37/244 |
| 代理公司： | 北京英賽嘉華知識產權代理有限責任公司 | 代理人： | 余朦;方挺 |
| 地址： | 捷克布*** | 國省代碼： | 捷克;CZ |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 二次電子 探測器 尤其是 掃描 電子顯微鏡 中的 | ||
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