[發明專利]用于測試電子器件的方法和裝置有效
| 申請號： | 03803713.0 | 申請日： | 2003-02-07 |
| 公開（公告）號： | CN1630820A | 公開（公告）日： | 2005-06-22 |
| 發明（設計）人： | 塔克·伍一·豐;陳國航;舒·奧恩·利姆 | 申請（專利權）人： | 英特爾公司 |
| 主分類號： | G01R1/04 | 分類號： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 | 代理人： | 柳春雷 |
| 地址： | 美國加利*** | 國省代碼： | 美國;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 測試 電子器件 方法 裝置 | ||
【權利要求書】：
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