[發明專利]用于光刻系統的對準系統和方法有效
| 申請號: | 03164859.2 | 申請日: | 2003-09-19 |
| 公開(公告)號: | CN1506768A | 公開(公告)日: | 2004-06-23 |
| 發明(設計)人: | F·B·M·范比森;J·伯格胡恩;R·J·F·范哈倫;P·C·欣南;H·G·范霍斯森;J·休布雷格特塞;A·B·約伊寧克;H·梅根斯;R·納瓦羅科倫;H·P·T·托斯馬;H·J·G·西蒙斯;J·R·舒爾休斯;S·I·徹特斯;Y·B·李;A·R·鄧巴 | 申請(專利權)人: | ASML荷蘭有限公司 |
| 主分類號: | G03F9/00 | 分類號: | G03F9/00;G03F7/20;H01S3/00;H01L21/027 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 章社杲 |
| 地址: | 荷蘭維*** | 國省代碼: | 荷蘭;NL |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 光刻 系統 對準 方法 | ||
【說明書】:
下載完整專利技術內容需要扣除積分,VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于ASML荷蘭有限公司,未經ASML荷蘭有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/03164859.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:確定光刻投影參數的方法、器件制造方法及器件
- 下一篇:電攝影感光體





