[發明專利]半導體集成電路和存儲器測試方法無效
| 申請號： | 03156311.2 | 申請日： | 2003-08-29 |
| 公開（公告）號： | CN1493988A | 公開（公告）日： | 2004-05-05 |
| 發明（設計）人： | 市川修 | 申請（專利權）人： | 松下電器產業株式會社 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京德琦知識產權代理有限公司 | 代理人： | 王琦;宋志強 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 半導體 集成電路 存儲器 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
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