[發(fā)明專利]半導(dǎo)體集成電路無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 03154909.8 | 申請(qǐng)日： | 2003-08-25 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN1484149A | 公開（公告）日： | 2004-03-24 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 米田貴史;神吉勉;辨野宏;吉岡志郎;上西恒雄 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào)： | G06F11/30 | 分類號(hào)： | G06F11/30;G06F1/24 |
| 代理公司： | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人： | 汪惠民 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 半導(dǎo)體 集成電路 | ||
【說明書】：
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G06 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù)
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè)；錯(cuò)誤校正；監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生，例如，容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi)，通過測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè)；錯(cuò)誤校正；監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生，例如，容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi)，通過測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
