[發明專利]高計數率的單光子檢測器無效
| 申請號： | 03141680.2 | 申請日： | 2003-07-18 |
| 公開（公告）號： | CN1482470A | 公開（公告）日： | 2004-03-17 |
| 發明（設計）人： | 秦小林;周春源;李和祥;丁良恩;曾和平 | 申請（專利權）人： | 華東師范大學 |
| 主分類號： | G01T1/24 | 分類號： | G01T1/24;G01T1/17;H01L31/02;H04B10/08 |
| 代理公司： | 上海德昭專利事務所 | 代理人： | 程宗德 |
| 地址： | 200062*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 計數 光子 檢測器 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于華東師范大學，未經華東師范大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/03141680.2/2.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：用來分析反射測量信息的分析系統
- 下一篇：結構改進之注液式放大鏡及其注液方法
