[發(fā)明專(zhuān)利]超快過(guò)程的探測(cè)裝置無(wú)效

申請(qǐng)?zhí)枺?/td>	03115175.2	申請(qǐng)日：	2003-01-27
公開(kāi)（公告）號(hào)：	CN1431483A	公開(kāi)（公告）日：	2003-07-23
發(fā)明（設(shè)計(jì)）人：	賈天卿;徐至展;段作梁;楊曉東;林禮煌;汪河洲	申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人：	中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所
主分類(lèi)號(hào)：	G01N21/55	分類(lèi)號(hào)：	G01N21/55;G01N21/59;G04F13/02
代理公司：	上海新天專(zhuān)利代理有限公司	代理人：	張澤純
地址：	201800 ***	國(guó)省代碼：	上海;31
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摘要：
搜索關(guān)鍵詞：	過(guò)程探測(cè) 裝置
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【說(shuō)明書(shū)】：

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同類(lèi)專(zhuān)利

專(zhuān)利分類(lèi)

G 物理

G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)

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