[發(fā)明專利]用于檢測(cè)和校正光存儲(chǔ)介質(zhì)上的相關(guān)地址的裝置和方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 03107956.3 | 申請(qǐng)日： | 2003-03-27 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN1450533A | 公開（公告）日： | 2003-10-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 嚴(yán)佑植 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 三星電子株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào)： | G11B7/00 | 分類號(hào)： | G11B7/00;G11B20/18 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務(wù)所 | 代理人： | 馬瑩,邵亞麗 |
| 地址： | 暫無信息 | 國(guó)省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 檢測(cè) 校正 存儲(chǔ) 介質(zhì) 相關(guān) 地址 裝置 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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- 專利分類
G11 信息存儲(chǔ)
G11B 基于記錄載體和換能器之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)而實(shí)現(xiàn)的信息存儲(chǔ)
G11B7-00 用光學(xué)方法，例如，用光輻射的熱射束記錄用低功率光束重現(xiàn)的；為此所用的記錄載體
G11B7-002 .按載體形狀區(qū)分的記錄、重現(xiàn)或抹除系統(tǒng)
G11B7-004 .記錄、重現(xiàn)或抹除方法；為此所用的讀、寫或抹除電路
G11B7-007 .記錄載體上信息的排列，例如，軌跡的形式
G11B7-08 .傳感頭或光源相對(duì)于記錄載體的配置或安裝
G11B7-12 .換能頭，例如光束點(diǎn)的形成或光束的調(diào)制
G11B 基于記錄載體和換能器之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)而實(shí)現(xiàn)的信息存儲(chǔ)
G11B7-00 用光學(xué)方法，例如，用光輻射的熱射束記錄用低功率光束重現(xiàn)的；為此所用的記錄載體
G11B7-002 .按載體形狀區(qū)分的記錄、重現(xiàn)或抹除系統(tǒng)
G11B7-004 .記錄、重現(xiàn)或抹除方法；為此所用的讀、寫或抹除電路
G11B7-007 .記錄載體上信息的排列，例如，軌跡的形式
G11B7-08 .傳感頭或光源相對(duì)于記錄載體的配置或安裝
G11B7-12 .換能頭，例如光束點(diǎn)的形成或光束的調(diào)制
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)管理裝置及方法
- 一種存儲(chǔ)方法、服務(wù)器及存儲(chǔ)控制器
- 一種基于存儲(chǔ)系統(tǒng)的控制方法及裝置
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- 一種數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方法及裝置
- 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備以及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種數(shù)據(jù)存儲(chǔ)控制方法及裝置
- 存儲(chǔ)設(shè)備、存儲(chǔ)系統(tǒng)及存儲(chǔ)方法
- 物料存儲(chǔ)方法及系統(tǒng)
- 基于雙芯智能電表的數(shù)據(jù)分類存儲(chǔ)方法和裝置
