[發明專利]測量電子元件中觸點位置的方法和設備無效
| 申請號： | 02804004.X | 申請日： | 2002-01-02 |
| 公開（公告）號： | CN1502220A | 公開（公告）日： | 2004-06-02 |
| 發明（設計）人： | 卡爾·斯麥茨;卡瑞爾·范·基爾斯;約翰·扎博理特斯基;于爾根·埃費拉茨 | 申請（專利權）人： | ICOS影像系統股份有限公司 |
| 主分類號： | H05K13/08 | 分類號： | H05K13/08 |
| 代理公司： | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人： | 蔣世迅 |
| 地址： | 比利時*** | 國省代碼： | 比利時;BE |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測量 電子元件 觸點 位置 方法 設備 | ||
【說明書】：
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