[發(fā)明專利]用于電子電路的優(yōu)化并行測試和訪問的方法及設(shè)備無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 02802313.7 | 申請日： | 2002-06-27 |
| 公開（公告）號： | CN1610834A | 公開（公告）日： | 2005-04-27 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 米歇爾·里凱蒂;克里斯托弗·J·克拉克 | 申請（專利權(quán)）人： | 英特泰克公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 永新專利商標代理有限公司 | 代理人： | 夏青 |
| 地址： | 美國新*** | 國省代碼： | 美國;US |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 電子電路 優(yōu)化 并行 測試 訪問 方法 設(shè)備 | ||
【說明書】：
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