[實用新型]雙測頭接觸式坐標(biāo)測量機床無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 02202349.6 | 申請日： | 2002-01-14 |
| 公開（公告）號： | CN2536349Y | 公開（公告）日： | 2003-02-19 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 鄭海波;鄭凌云 | 申請（專利權(quán)）人： | 鄭海波 |
| 主分類號： | B23Q17/20 | 分類號： | B23Q17/20 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 362000 福建省*** | 國省代碼： | 福建;35 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 雙測頭 接觸 坐標(biāo) 測量 機床 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種雙測頭接觸式坐標(biāo)測量機床，包括測頭，其特征是：在現(xiàn)有接觸式坐標(biāo)測量機床的結(jié)構(gòu)上，增加一個測頭，采用兩個測頭。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙測頭接觸式坐標(biāo)測量機床，其特征是：兩測頭安裝在同一個橫梁上，并可彼此相互獨立的運動。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙測頭接觸式坐標(biāo)測量機床，其特征是：各坐標(biāo)方向的運動采用數(shù)控系統(tǒng)完成，實現(xiàn)自動測量。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙測頭接觸式坐標(biāo)測量機床，其特征是：各坐標(biāo)方向的運動均用手動完成。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的雙測頭接觸式坐標(biāo)測量機床，其特征是：測頭形狀除了用直線型外，還可采用直角彎頭型，以便于測量內(nèi)凹點的坐標(biāo)。
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