[發(fā)明專利]檢測(cè)記錄在光盤(pán)上的平臺(tái)預(yù)置凹坑地址信息的方法和設(shè)備無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 02145843.X | 申請(qǐng)日： | 2002-10-15 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN1423255A | 公開(kāi)（公告）日： | 2003-06-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 金明植 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 三星電子株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào)： | G11B7/007 | 分類號(hào)： | G11B7/007;G11B19/12;G11B20/12 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務(wù)所 | 代理人： | 馬瑩,邵亞麗 |
| 地址： | 韓國(guó)*** | 國(guó)省代碼： | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 檢測(cè) 記錄 光盤(pán) 平臺(tái) 預(yù)置 地址 信息 方法 設(shè)備 | ||
【說(shuō)明書(shū)】：
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G11 信息存儲(chǔ)
G11B 基于記錄載體和換能器之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)而實(shí)現(xiàn)的信息存儲(chǔ)
G11B7-00 用光學(xué)方法，例如，用光輻射的熱射束記錄用低功率光束重現(xiàn)的；為此所用的記錄載體
G11B7-002 .按載體形狀區(qū)分的記錄、重現(xiàn)或抹除系統(tǒng)
G11B7-004 .記錄、重現(xiàn)或抹除方法；為此所用的讀、寫(xiě)或抹除電路
G11B7-007 .記錄載體上信息的排列，例如，軌跡的形式
G11B7-08 .傳感頭或光源相對(duì)于記錄載體的配置或安裝
G11B7-12 .換能頭，例如光束點(diǎn)的形成或光束的調(diào)制
G11B 基于記錄載體和換能器之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)而實(shí)現(xiàn)的信息存儲(chǔ)
G11B7-00 用光學(xué)方法，例如，用光輻射的熱射束記錄用低功率光束重現(xiàn)的；為此所用的記錄載體
G11B7-002 .按載體形狀區(qū)分的記錄、重現(xiàn)或抹除系統(tǒng)
G11B7-004 .記錄、重現(xiàn)或抹除方法；為此所用的讀、寫(xiě)或抹除電路
G11B7-007 .記錄載體上信息的排列，例如，軌跡的形式
G11B7-08 .傳感頭或光源相對(duì)于記錄載體的配置或安裝
G11B7-12 .換能頭，例如光束點(diǎn)的形成或光束的調(diào)制
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 光盤(pán)播放裝置
- 光學(xué)信息記錄/再生裝置
- 光盤(pán)裝置和光盤(pán)匣
- 一種光盤(pán)屜及具有該光盤(pán)屜的光盤(pán)柱
- 一種光盤(pán)保密管理設(shè)備和系統(tǒng)
- 一種光驅(qū)交錯(cuò)排列式光存儲(chǔ)系統(tǒng)
- 一種用于全自動(dòng)光盤(pán)刻錄和打印裝置的光盤(pán)存儲(chǔ)裝置
- 一種光盤(pán)存儲(chǔ)裝置及光盤(pán)庫(kù)
- 一種光盤(pán)存儲(chǔ)裝置及光盤(pán)庫(kù)
- 帶有光盤(pán)盒及轉(zhuǎn)換驅(qū)動(dòng)源的光盤(pán)重放機(jī)
