[發明專利]光柵失真校正電路

無效

• 申請號: 02140198.5
• 申請日: 2002-05-08
• 公開（公告）號: CN1387366A
• 公開（公告）日: 2002-12-25
• 發明（設計）人: R·韋伯
• 申請（專利權）人: 湯姆森許可公司
• 主分類號: H04N3/16
• 分類號: H04N3/16;H04N3/23
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 張志醒

1.一種有光柵失真校正的偏轉裝置，包括

偏轉線圈(Ly)，它耦連到回描電容器(C1a)，在回描間隔期間形成回描諧振電路，并耦連到跟蹤電容器(Cs)，在跟蹤間隔期間形成包括所述偏轉線圈和所述跟蹤電容器的第1跟蹤諧振電路；

第1開關半導體(Q1)，在與第1偏轉頻率(HORIZONTAL)相關的頻率處的響應同步的第1信號(50)，和耦連到所述偏轉線圈，在與所述的同步第1信號同步的所述偏轉線圈中產生偏轉電流(ILy)。

調制電感(Lx)，在所述跟蹤間隔期間，它耦連在第2跟蹤諧振電路(Lx，Cx)中；

在與第2偏轉頻率(VERTICAL)相關的頻率處的調制第2信號(IPcor)源；其特征是，

第2開關半導體(Q2)響應所述第1和第2信號，在所述跟蹤間隔的第1部分期間(圖3A至3C中T1和T2外邊跟蹤部分)，有第1開關狀態(關)，所述跟蹤間隔(T1和T2)的第2部分期間，有第2開關狀態(開)，所述跟蹤間隔的第1部分和第2部分按所述第2信號變化，耦連到所述調制電感的所述第2開關半導體在所述調制電感和所述跟蹤電容器中產生調制電流(Ix)，調制電流(Ix)根據所述第2信號調制所述跟蹤電容器中產生的電壓(VCs)，以進行光柵失真校正。

2.按權利要求1的有光柵失真校正的偏轉裝置，其特征是，調制所述跟蹤電容器電壓(VCs)，以進行S形校正。

3.按權利要求1的有光柵失真校正的偏轉裝置，其特征是，脈沖寬度調制器(60)響應所述同步第1信號(60b)和所述調制第2信號(IPcor)，以控制所述第2開關半導體(Q2)的所述開關狀態。

4.按權利要求1的有光柵失真校正的偏轉裝置，其特征是，調制電容器(Cx)耦連到所述跟蹤電容器(Cs)和所述調制電感(Lx)以在所述跟蹤間隔的所述第2部分(圖3A-3C所示的T1和T2)期間形成所述第2跟蹤諧振電路(Cx，Lx)。

5.按權利要求1的有光柵失真校正的偏轉裝置，其特征是，東—西方光柵失真校正電路(QEW，LEW)響應在與垂直偏轉頻率相關的頻率處的調制第3信號(E/W-DRIVE)，以進行東—西方光柵失真校正。

6.按權利要求5的有光柵失真校正的偏轉裝置，其特征是，所述東—西方光柵失真校正電路(QEW，Lew)包括二極管調制器。

7.按權利要求1的有光柵失真校正的偏轉裝置，其特征是，開關控制器(60)響應所述調制第2信號(IPWR)和反饋信號(Fb)，用于控制負反饋閉合回路中的所述第2開關半導體(Q2)。

8.按權利要求7的有光柵失真校正的偏轉裝置，其特征是，在所述電流傳感器(62)中產生所述反饋信號(Fb)。

9.按權利要求1的有光柵失真校正的偏轉裝置，其特征是，所述第2開關半導體(Q2)，在所述跟蹤間隔(T1和T2)的第2部分期間，把所述調制電感(Lx)耦連到所述跟蹤電容器(Cs)，在所述跟蹤間隔的第1部分(T1和T2的外邊跟蹤部分)，使所述調制電感從所述跟蹤電容器斷開。

10.按權利要求9的有光柵失真校正的偏轉裝置，其特征是，所述跟蹤間隔的第2部分(圖3A至3C的T1和T2)位于相對于所述跟蹤間隔中心對稱的位置。

11.按權利要求9的有光柵失真校正的偏轉裝置，其特征是，所述跟蹤間隔的所述第2部分在每個跟蹤間隔期間按不鄰接方式配置。

12.按權利要求9的有光柵失真校正的偏轉裝置，其特征是，所述跟蹤間隔的所述第2部分(T1″，T2″，T3″，T4″)相對于所述跟蹤間隔中心對稱配置。

13.按權利要求1的有光柵失真校正的偏轉裝置，其特征是，所述第1開關半導體包括第1開關晶體管(Q1)，其中所述第2開關半導體(Q2)包括第2開關晶體管。