[發(fā)明專利]低強(qiáng)度激光動(dòng)態(tài)光散射測量納米顆粒粒徑的方法及其裝置無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 02134926.6 | 申請(qǐng)日: | 2002-10-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN1403797A | 公開(公告)日: | 2003-03-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邢達(dá);李紹新 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華南師范大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N15/02 | 分類號(hào): | G01N15/02;G01N21/47 |
| 代理公司: | 廣州粵高專利代理有限公司 | 代理人: | 何燕玲 |
| 地址: | 510630*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 強(qiáng)度 激光 動(dòng)態(tài) 散射 測量 納米 顆粒 粒徑 方法 及其 裝置 | ||
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