[發(fā)明專利]電容器下電極的結(jié)構(gòu)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 02124310.7 | 申請日: | 2002-06-14 |
| 公開(公告)號: | CN1393909A | 公開(公告)日: | 2003-01-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 孫嘉駿;林思閩;王泉富 | 申請(專利權(quán))人: | 聯(lián)華電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/28 | 分類號: | H01L21/28;H01L21/70 |
| 代理公司: | 北京集佳專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人: | 王學(xué)強(qiáng) |
| 地址: | 臺灣省新竹科學(xué)*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電容器 電極 結(jié)構(gòu) | ||
1.一種電容器下電極的結(jié)構(gòu),其特征是,該電容器下電極的俯視圖呈一狹長形,該狹長形具有兩端及兩側(cè)邊,其中該兩端皆呈一尖凸?fàn)睿以搩蓚?cè)邊皆向內(nèi)凹入。
2.如權(quán)利要求1所述的電容器下電極的結(jié)構(gòu),其特征是,該電容器下電極的材質(zhì)包括多晶硅。
3.一種提高電容器下電極工藝合格率的方法,其特征是,該方法包括:
在形成多個電容器下電極時,將其中每一個電容器下電極皆定義成俯視圖呈一狹長形,且具有相同的指向,其中該狹長形具有兩端及兩側(cè)邊,該兩端皆呈一尖凸?fàn)睿以搩蓚?cè)邊皆向內(nèi)凹入;以及
在形成該電容器下電極之后所進(jìn)行的一清洗步驟中,使該清洗步驟中所使用的一清洗溶液的水流方向大致與該些電容器下電極的一長軸平行。
4.如權(quán)利要求3所述的提高電容器下電極工藝合格率的方法,其特征是,該些電容器下電極的材質(zhì)包括多晶硅。
5.如權(quán)利要求3所述的提高電容器下電極工藝合格率的方法,其特征是,該清洗步驟為一用來清洗該些電容器下電極的表面。
6.如權(quán)利要求5所述的提高電容器下電極工藝合格率的方法,其特征是,該清洗溶液的組成包括去離子水、硫酸(H2SO4)與過氧化氫(H2O2)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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