[發(fā)明專利]檢測(cè)快閃存儲(chǔ)器邏輯位址的方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 02116147.X | 申請(qǐng)日： | 2002-04-19 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN1452183A | 公開(kāi)（公告）日： | 2003-10-29 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 林晉賢 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 笙泉科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G11C29/00 | 分類號(hào)： | G11C29/00;G06F11/22 |
| 代理公司： | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人： | 朱黎光,嚴(yán)舫 |
| 地址： | 臺(tái)灣省新竹市*** | 國(guó)省代碼： | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 檢測(cè) 閃存 邏輯 位址 方法 | ||
【說(shuō)明書】：
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- 同類專利
- 專利分類
G11 信息存儲(chǔ)
G11C 靜態(tài)存儲(chǔ)器
G11C29-00 存儲(chǔ)器正確運(yùn)行的校驗(yàn)；備用或離線操作期間測(cè)試存儲(chǔ)器
G11C29-02 .損壞的備用電路的檢測(cè)或定位，例如，損壞的刷新計(jì)數(shù)器
G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
G11C29-52 .存儲(chǔ)器內(nèi)量保護(hù)；存儲(chǔ)器內(nèi)量中的錯(cuò)誤檢測(cè)
G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置，例如，可測(cè)試性設(shè)計(jì)
G11C29-56 .用于靜態(tài)存儲(chǔ)器的外部測(cè)試裝置，例如，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
G11C 靜態(tài)存儲(chǔ)器
G11C29-00 存儲(chǔ)器正確運(yùn)行的校驗(yàn)；備用或離線操作期間測(cè)試存儲(chǔ)器
G11C29-02 .損壞的備用電路的檢測(cè)或定位，例如，損壞的刷新計(jì)數(shù)器
G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
G11C29-52 .存儲(chǔ)器內(nèi)量保護(hù)；存儲(chǔ)器內(nèi)量中的錯(cuò)誤檢測(cè)
G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置，例如，可測(cè)試性設(shè)計(jì)
G11C29-56 .用于靜態(tài)存儲(chǔ)器的外部測(cè)試裝置，例如，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
