[發明專利]一種掠發射X射線熒光分析用樣品制備裝置無效
| 申請號： | 02109015.7 | 申請日： | 2002-01-07 |
| 公開（公告）號： | CN1166935C | 公開（公告）日： | 2004-09-15 |
| 發明（設計）人： | 鞏巖;陳波 | 申請（專利權）人： | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號： | G01N1/28 | 分類號： | G01N1/28;G01N1/36;G01N23/223 |
| 代理公司： | 長春科宇專利代理有限責任公司 | 代理人： | 劉樹清 |
| 地址： | 130022吉*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 發射 射線 熒光 分析 樣品 制備 裝置 | ||
【權利要求書】：
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