[發明專利]相位校正電路、信號判別電路、相位校正方法及信號判別方法

無效

• 申請號: 02105722.2
• 申請日: 2002-04-16
• 公開（公告）號: CN1386019A
• 公開（公告）日: 2002-12-18
• 發明（設計）人: 稻田至弘;山下伸二
• 申請（專利權）人: 三菱電機株式會社;三菱電機系統LSI設計株式會社
• 主分類號: H04N9/64
• 分類號: H04N9/64
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 陳景峻,葉愷東

1.一種相位校正電路，它是校正信號相位的相位校正電路，其特征為，前述信號，在具有第1及第2坐標軸的正交坐標系的向量圖上，以具有作為前述第1坐標軸上的分量的第1分量及作為前述第2坐標軸上的分量的第2分量的信號向量表示，

前述相位校正電路配備可以取得相當于前述第1分量的絕對值和第2分量的絕對值之差的絕對值差分的絕對值差分演算部和

用前述絕對值差分校正前述信號的前述相位的校正處理部，

前述校正處理部包含對前述絕對值差分乘校正系數，取得校正量的校正量演算部和

用前述校正量及前述第1及第2分量，校正前述信號的前述相位的校正信號生成部。

2.根據權利要求1所述的相位校正電路，其特征為，

前述絕對值差分演算部包含對前述第1分量和第2分量相加的第1加法器和求前述第1分量和前述第2分量之差的第1減法器之中至少一方，

用由前述第1加法器得到的相加值和由前述第1相減器得到的相減值之中至少一方，取得前述絕對值差分。

3.根據權利要求1所述的相位校正電路，其特征為，

前述校正信號生成部包含在前述第1或第2分量上加上前述校正量的第2加法器和從前述第1或第2分量減去前述校正量的第2減法器的其中一種。

4.根據權利要求1所述的相位校正電路，其特征為，它還包含：用前述絕對值對前述信號是否是對前述相位應校正的信號進行信號判別，根據前述信號判別的結果控制前述校正處理部。

5.根據權利要求4所述的相位校正電路，其特征為，

前述分量判別部包含對前述絕對值差分的絕對值和至少一個比較基準值之間的大小關系進行比較的比較部。

6.根據權利要求5所述的相位校正電路，其特征為，

前述至少一個比較基準值包含多個比較基準值，

前述校正系數根據依靠前述比較部的比較結果是可變的。

7.根據權利要求6所述的相位校正電路，其特征為，

前述多個比較基準值越大，則前述校正系數的絕對值越小。

8.根據權利要求4所述的相位校正電路，其特征為，

前述分量判別部配備前述第1及第2分量及前述絕對值差分的符號判別的符號判別部，

用前述第1及第2分量及前述絕對值差分的前述符號，實施前述信號的判別。

9.根據權利要求4所述的相位校正電路，其特征為，

前述信號判別包含對前述信號的前述相位是否在預定的相位范圍內的相位判別和前述信號向量的終點是否在離開校正軸的預定距離內的距離判別中的至少一種判別。

10.根據權利要求9所述的相位校正電路，其特征為，

前述預定距離包含多個的距離，

前述預定距離越大，則前述校正系數的絕對值越小。

11.根據權利要求1所述的相位校正電路，其特征為，

前述信號包含色度信號，

前述第1坐標軸包含BY軸，前述第2坐標軸包含RY軸。

12.信號判別電路，它是判別信號的信號判別電路，其特征為，

前述信號在具有第1及第2坐標軸的正交坐標系的向量圖上，以具有作為前述第1坐標軸上的分量的第1分量及作為前述第2坐標軸上的分量的第2分量的信號向量表示，

前述信號判別電路包含取得相當于前述第1分量的絕對值和前述第2分量的絕對值之差的絕對差分的絕對值差分演算部和

用前述絕對值差分，實施前述信號的前述第1及第2分量是否在預定范圍的信號判別的分量判別部。

13.根據權利要求12所述的信號判別電路，其特征為，

前述分量判別部包含對前述絕對值差分的絕對值和至少一個比較基準值之間的大小關系進行比較的比較部。

14.根據權利要求12或13所述的信號判別電路，其特征為，

前述分量判別部包含判別前述第1及第2分量以及前述絕對值差分值的符號的符號判別部，

用前述第1及第2分量以及前述絕對值差分的前述符號，實施前述信號判別。

15.根據前述權利要求12所述的信號判別電路，其特征為，

前述信號判別包含對前述信號的前述相位是否在預定相位的范圍內的相位判別和

前述信號向量的終點是否在離開校正軸的預定距離內的距離判別中的至少一種判別。