[發(fā)明專利]顯示裝置的檢查裝置、驅(qū)動信號供應(yīng)裝置以及顯示裝置的檢查系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 02105248.4 | 申請日: | 2002-02-21 |
| 公開(公告)號: | CN1400470A | 公開(公告)日: | 2003-03-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 久保田靖文 | 申請(專利權(quán))人: | 愛斯佩克株式會社 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司: | 隆天國際專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人: | 潘培坤,陳紅 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 顯示裝置 檢查 裝置 驅(qū)動 信號 供應(yīng) 以及 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種顯示裝置的檢查裝置及其相關(guān)裝置和系統(tǒng),具體而言,就是與將驅(qū)動信號輸入顯示裝置且執(zhí)行顯示裝置的目視檢查的顯示裝置的檢查裝置、驅(qū)動信號供應(yīng)裝置、以及顯示裝置的檢查系統(tǒng)相關(guān)。
技術(shù)背景
FPD(FLAT?PANEL?DISPLAY)上經(jīng)常會發(fā)生制造缺陷造成點不良或線不良。此不良結(jié)果在常溫的檢查中有時不易察覺,通常在60℃前后的高溫下,會顯示可以發(fā)現(xiàn)不良的圖案(顯示形態(tài)),利用目視來檢查微妙的不良十分有效。
所以,以往在FPD模塊的生產(chǎn)線的最終步驟(檢品步驟)中,會實施篩選試驗,對顯示裝置施加比操作條件更高的高溫及高電壓,加速故障發(fā)生,實施短時間內(nèi)去除不良品的老化測試。
利用圖11及圖12來針對FPD模塊的恒溫目視檢查裝置的老化裝置進行說明。
通常,F(xiàn)PD模塊的老化裝置的高溫槽內(nèi)可以收納16片至80片的FPD模塊,并可以在高溫下通電及顯示測試形態(tài)下,放置一定時間(老化)。然后,可以從高溫槽的觀察窗觀察FPD模塊的顯示狀態(tài),并可以目視判斷其經(jīng)時變化。
另外,在前述老化裝置中,對高溫槽內(nèi)的FPD模塊施加驅(qū)動信號的方法,一般有分配方式(圖11)及1對1方式(圖2)。分配方式時,在電裝盤內(nèi)設(shè)置1臺信號發(fā)生器,從該處將驅(qū)動信號分配并輸入各FPD模塊。另一方面,1對1方式時,在各FPD模塊設(shè)置信號發(fā)生器,將信號輸入至各FPD模塊。
如圖11所示,分配方式的老化裝置100中,由絕熱材料包住的高溫槽120,會依據(jù)設(shè)置在電裝盤110內(nèi)的高溫槽控制器112的控制,而維持在高溫狀態(tài)。另外,電裝盤110內(nèi)設(shè)置1臺信號發(fā)生器113,信號發(fā)生器113發(fā)生的驅(qū)動信號會輸入至高溫槽120內(nèi)的多個FPD模塊D…。此時,由信號發(fā)生器113發(fā)生的信號,會分配至高溫槽120內(nèi)的各FPD模塊D,并利用波形成形電路121對輸入至FPD模塊D的信號波形進行整形。老化裝置100整體的控制由主控制器111來執(zhí)行。
相對于此,如圖12所示,1對1方式的老化裝置200時,以絕熱材料包住的高溫槽220,會依據(jù)設(shè)置在電裝盤210內(nèi)的高溫槽控制器212的控制,而維持在高溫狀態(tài)。另外,高溫槽220內(nèi),針對多個各FPD模塊D…分別設(shè)置信號發(fā)生器221…,各信號發(fā)生器221發(fā)生的信號會分別輸入至FPD模塊D。此外,老化裝置200整體的控制由主控制器211來執(zhí)行。
然而,在FPD制造工程的篩選試驗時,會對FPD模塊輸入各色(RGB)之BETA影像等簡易驅(qū)動信號(簡易檢查用信號)。其次,為了確認(rèn)篩選試驗中發(fā)現(xiàn)缺陷的FPD模塊的不良內(nèi)容,輸入十字光標(biāo)等解析用驅(qū)動信號(解析用信號),執(zhí)行詳細檢查。然后,依據(jù)解析結(jié)果判斷,若為可以修理的FPD模塊缺陷,經(jīng)過修理、再度檢查后出貨。另外,解析所獲得的資料,應(yīng)進行收集并將其回饋至制造工程上。
若在前述1對1方式上采用施加解析用信號的方法(圖12),則必須對收納于高溫槽220內(nèi)的FPD模塊D…設(shè)置信號發(fā)生器221…,因為解析用信號發(fā)生器的價格十分昂貴,故老化裝置200也會變得非常昂貴。
另一方面,若在前述分配方式上采用施加解析用信號的方法(圖11),雖然對多個FPD模塊D只需設(shè)置1臺信號發(fā)生器113,但信號發(fā)生器113發(fā)生故障時,則無法對全部FPD模塊D…施加解析用信號。另外,信號發(fā)生器113發(fā)生的高速信號必須分配給高溫槽120內(nèi)分散的FPD模塊D…,而因為以分配為目的的分配電路(圖上未標(biāo)示)的價格十分昂貴,故老化裝置100會變得較為昂貴。
如上面所述,前述傳統(tǒng)構(gòu)造無法以較便宜的價格,提供可以確實利用解析用信號來進行檢查的裝置。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對顯示裝置的目視檢查,提供可分別供應(yīng)BETA影像等簡易檢查用信號以及十字光標(biāo)等解析用驅(qū)動信號,之顯示裝置的檢查裝置、驅(qū)動信號供應(yīng)裝置、以及顯示裝置的檢查系統(tǒng)。
為了達到前述目的,本發(fā)明相關(guān)顯示裝置的檢查裝置,為對多個顯示裝置輸入驅(qū)動信號并提供顯示裝態(tài)的顯示裝置的檢查裝置,具有生成第1驅(qū)動信號的第1驅(qū)動信號生成器,且前述各顯示裝置具備可以從外部輸入第2驅(qū)動信號的連接器、以及選擇前述第1驅(qū)動信號發(fā)生器生成的第1驅(qū)動信號或介由前述連接器輸入的第2驅(qū)動信號的其中之一并輸入前述顯示裝置的切換電路。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于愛斯佩克株式會社,未經(jīng)愛斯佩克株式會社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/02105248.4/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





