[發(fā)明專利]電容測量

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 02104511.9
• 申請(qǐng)日: 2002-02-07
• 公開（公告）號(hào): CN1369713A
• 公開（公告）日: 2002-09-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: J·M·倫德;小B·恩
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 弗蘭克公司
• 主分類號(hào): G01R27/26
• 分類號(hào): G01R27/26
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 王岳,張志醒

1.一種用于測量電容的方法，包括以下步驟：

至少部分地放電所述電容器并測量其上的電壓以便獲得初始電壓；

提供一個(gè)或幾個(gè)預(yù)定的電荷包以便在所述電容器上積累總電荷，從而在所述電容器上產(chǎn)生超過一個(gè)預(yù)定的最小電壓的最終電壓；以及

通過從所述最終電壓減去所述初始電壓而獲得一個(gè)差值電壓，并用所述差值電壓除所述電容器上的所述總的積累電荷來計(jì)算所述電容。

2.如權(quán)利要求1所述的用于測量電容的方法，還包括選擇電流值和時(shí)間間隔從而提供所述預(yù)定最小電荷包的步驟。