[發明專利]測量眼鏡片或接觸透鏡的性能的透鏡檢測儀

無效

• 申請號: 02103559.8
• 申請日: 2002-02-07
• 公開（公告）號: CN1369697A
• 公開（公告）日: 2002-09-18
• 發明（設計）人: 秋山久則;神保昌宏;依田壽郎
• 申請（專利權）人: 保谷株式會社
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 李德山

發明領域

本發明涉及根據權利要求1的測量眼鏡片或接觸透鏡的性能的透鏡檢測儀。

現有技術

當用手動透鏡檢測儀測量鏡片的性能時，可通過目測獲得或是借助儀器來得到圖像聚焦平面。包括待檢鏡片的光學系統中各元件的沿光軸的相對位置和和待檢鏡片與具有光源的光學系統之間的距離被改變，而且由得到該圖像聚焦平面所需要的元件的移動距離和待檢鏡片與具有光源的光學系統之間的距離來獲得焦距。但是，通過目測得到該圖像聚焦平面的方法存在的不足之處在于，因不同的觀測者而導致的測量誤差趨于增加。

為了克服手動透鏡檢測儀的上述不足，日本專利申請公開NOS.昭49(1974)-122355、昭60(1985)-17355和平8(1996)-20334均披露了自動透鏡檢測儀。日本專利申請公開NO.昭49(1974)-122355所公開的一種透鏡檢測儀包括以手動方式安裝待檢測的透鏡，使該待檢透鏡的光學中心置于發送光的準直透鏡和接收光的準直透鏡的光軸上；用于攝像的光學系統，該光學系統具有設置在沿上述光軸的延長線的聚焦平面上的光電轉換器；設置一目標像的亮度信號和計算某一位置的電路，該目標像是通過光電轉換器的掃描線還原而成的，該位置處的具有光源的光學系統的一個方向的運動和另一個方向的運動間的電亮度信號的時間寬度區域被最小化；和通過脈沖馬達和用于驅動該脈沖馬達的信號發生器自動控制具有光源的光學系統的往復運動的電路與上述電路同步。具有最小區域目標像的位置被轉換成一以屈光度表示的信號。

在自動透鏡檢測儀中，包括有日本專利申請公開NOS.昭49(1974)-122355、昭60(1985)-17355中描述的自動透鏡檢測儀，必須具有檢測最佳位置的裝置和設置用于移動目標的機構。因此，需要作一些改進以使待檢透鏡的折射率、軸線的角度和棱鏡值(prism?values)可以通過設置在成象透鏡的聚焦面上的圖像傳感器的信號的處理進行測量而不用移動狹縫圖案。日本專利申請公開NO.平8(1996)-20334描述的自動透鏡檢測儀中簡化了這一結構。

在日本專利申請公開NO.昭60(1985)-17355描述的自動透鏡檢測儀中，在接收光線的物鏡的后面把用于測量的光線分成兩組。由待檢透鏡偏離的測量光線的距離用兩個圖像傳感器測得且通過所得到的數據的計算得到折射光焦度。由于經過待檢透鏡后的測量光線被分成了兩組光線即，X方向光線組和Y方向光線組，且被發射到圖像傳感器，所以使得發射到每個圖像傳感器上的光信號的數量減少到原來信號數量的一半或更少。因此，必須進行提高S/N比的特殊的電處理且電路變得復雜和成本高。

另外，由于必須設置用于分開光線的分束器和兩個圖像傳感器，所以光路、兩個圖像傳感器和用于設置這些部件的部分不可避免地使裝置復雜且成本高。

在日本專利申請公開NO.平8(1996)-20334描述的自動透鏡檢測儀中，由待檢透鏡分開的在X方向和Y方向的測量光線偏心的距離由一設置在用于接收光線的物鏡后面的單一的圖像傳感器測得且折射光焦度可以通過計算已得到的數據來獲取。一具有“N”形狹縫的圖案被用于測量。因此，相對于圖像傳感器傾斜設置的部分被用于Y方向檢測且產生了位置信息精度下降的問題。

發明概述

本發明已經解決了上述問題，其目的是提供一種結構簡單且測量精度高的自動透鏡檢測儀。

本發明的目的由權利要求1的特征來解決。

本發明的改進實施例由從屬權利要求得到。

本發明提供：

一種自動透鏡檢測儀，包括一光學系統，在該光學系統中，通過投影由圖案產生元件產生的圖案而形成一圖案的像，且根據該圖案的像從光學系統的光路中沒有待檢透鏡處到光路中具有待檢透鏡處位移的信息，測量待檢透鏡的光學性能，所述自動透鏡檢測儀包括：

多個光源，設置在垂直于光軸的平面上的與光學系統的光軸等距離隔開的位置處；

一光轉換透鏡，以其光軸與光學系統光軸相同的方式布置并將來自光源的光線轉換成平行光線；

一測量臺，在其上將待檢透鏡設置在來自光轉換透鏡的光路中；

一準直透鏡，經該準直透鏡使來自光轉換透鏡的光線通過且在測量臺上設置的待檢透鏡上形成多個光源的像；

一圖案產生元件，設置在光轉換透鏡和準直透鏡之間；

一用于接收光線的物鏡，其在指定的圖案像形成平面上形成由圖案產生元件產生的圖案的圖案像；

一些線性傳感器，設置在圖案像形成平面上；

其中：