[發明專利]地址生成電路有效
| 申請號: | 02103163.0 | 申請日: | 2002-02-01 |
| 公開(公告)號: | CN1381848A | 公開(公告)日: | 2002-11-27 |
| 發明(設計)人: | 橫関亙 | 申請(專利權)人: | 富士通株式會社 |
| 主分類號: | G11C11/413 | 分類號: | G11C11/413;G11C17/14 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人: | 付建軍 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 地址 生成 電路 | ||
技術領域
本發明涉及一種地址生成電路,特別是一種冗余地址生成電路,用于存儲一個RAM(隨機存儲器)存儲單元陣列中的損壞的存儲單元的地址(以下稱為冗余地址)和在RAM的電源打開時生成冗余地址。
背景技術
如1(a)和1(b)是傳統的地址生成電路的示意圖。
圖1(a)是說明傳統的地址生成電路的電路圖。在此圖中,41是包含PMOS晶體管的第一開關晶體管、42是熔絲元件、43是鎖存電路、44是倒相器和45是電源接通復位電路。
在圖1(a)所示的傳統的地址生成電路中,第一開關晶體管41和熔絲元件42在電源VDD和地VSS之間依次串聯。鎖存電路43包括兩個倒相器。一個倒相器的輸入端和另一個倒相器的輸出端相互連接。鎖存電路43的輸入節點連接到第一開關晶體管41和熔絲元件42的連接節點A,而相對側的輸出節點連接到倒相器44。
電源接通復位電路45輸出復位信號RES。復位信號RES輸入到第一開關晶體管41的柵極。熔絲元件42根據要生成的地址選擇有選擇的設置在切斷狀態或非切斷狀態。由此,可以存儲二進制信息。
圖1(b)是輸入到第一開關晶體管41柵極的復位信號RES波形的波形圖。在此圖中,橫軸t表示時間,豎軸V表示電壓,t0表示電源接通時的時間。
如圖1(b)所示,當在時間t0接通電源時,電源VDD的電勢隨時間的流逝而上升。當VDD到達預定的電源電壓,例如3.3V時,保持該電源電壓。同時,電源電壓復位電路45響應電源電壓電平的增加而工作,并輸出復位信號RES。復位信號RES保持在地電勢,直到從時間t0(t0表示電源接通時的時間)延遲預定時間的時間t1,在時間t1以后,復位信號RES的波形跟隨電源VDD的電平上升。也就是說,復位信號RES具有這樣一種波形,即如圖1(b)所示電平在時間t1像臺階一樣上升。
接下來,將參照圖1(b)的復位信號RES的波形解釋圖1(a)的地址生成電路的操作。
因為電源接通以后復位信號RES從時間t0保持在地電勢直到時間t1,第一開關晶體管41導通。因此,電荷從電源VDD供應到節點A,由此節點A保持在某一正電勢。
在時間t1,如圖1(b)所示復位信號RES的電平像臺階一樣上升,由此第一開關晶體管41關閉。因此,當熔絲元件42處于非切斷狀態時,在節點A積累的電荷經熔絲元件42轉移到地VSS,鎖存電路43的輸入節點保持在地電勢。同時,當熔絲元件42處于切斷狀態時,一定的電荷保持在節點A,鎖存電路43輸入節點的電勢保持在某一正電勢。
因此,在電源接通以后,根據熔絲元件42的切斷或非切斷狀態,H電平或L電平鎖定在鎖存電路43。當熔絲元件42設置在切斷狀態時,H電平信號從鎖存電路43輸出到倒相器44。當熔絲元件42設置在非切斷狀態時,L電平信號輸出到倒相器44。相應的,存儲在地址生成電路的地址(二進制信息)經倒相器44輸出。
但是,在上述傳統的地址生成電路中,在電源從接通到關閉的期間內,在熔絲元件42的切斷狀態下,相應于電源電壓的大電壓總是施加在熔絲元件42的兩端。從而,少量的電流穩定的流過熔絲元件42。
也就是說,熔絲元件42即使在切斷狀態下也具有實際大約幾M□的電阻。因此,即使熔絲元件42處于切斷狀態,也穩定的形成途經鎖存電路43的輸入節點、熔絲元件42和地VSS的電流通路。因為熔絲元件42處于切斷狀態時,鎖存電路43的輸入節點在H電平,在鎖存電路43的輸入節點(H電平)和地VSS之間有少量的漏電流,并穩定的流入切斷狀態下的熔絲元件42。
由于這種穩定的漏電流,會對熔絲元件42的材料(例如,鋁、銅)造成輝光回退現象(glow-back?phenomenon)。當電源開關周期多次重復時,切斷狀態的熔絲元件42由于輝光回退現象逐漸變化之后再次連接,因而電阻值下降。結果,即使熔絲處于切斷狀態也會出現這樣的問題,即由于對熔絲切斷信息的錯誤數據閂鎖,會產生相應于熔絲非切斷狀態的地址。
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