[發(fā)明專利]集成電路測試機(jī)臺的完測品收集裝置以及完測品收集方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 02103139.8 | 申請日： | 2002-01-31 |
| 公開（公告）號： | CN1435364A | 公開（公告）日： | 2003-08-13 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 施光華;楊偉源;陳金福 | 申請（專利權(quán)）人： | 旺宏電子股份有限公司 |
| 主分類號： | B65G49/07 | 分類號： | B65G49/07;B65G57/32;B65G47/74 |
| 代理公司： | 北京集佳專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人： | 王學(xué)強(qiáng) |
| 地址： | 臺灣省新竹科*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 集成電路 測試 機(jī)臺 完測品 收集 裝置 以及 方法 | ||
【說明書】：
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