[發明專利]鉆石顏色測量和分析系統、設備與方法有效
| 申請號: | 01804742.4 | 申請日: | 2001-02-06 |
| 公開(公告)號: | CN1398346A | 公開(公告)日: | 2003-02-19 |
| 發明(設計)人: | P·德容;R·熱爾 | 申請(專利權)人: | 美國杰莫洛吉克爾研究所有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/00 | 分類號: | G01N21/00;G01N21/25 |
| 代理公司: | 北京紀凱知識產權代理有限公司 | 代理人: | 趙蓉民 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 鉆石 顏色 測量 分析 系統 設備 方法 | ||
1.一種鉆石顏色測量設備包含:
一個用于容納鉆石的表面;
一個光檢測器,設置成當所述表面容納這種鉆石時,檢測以一個特定角度從下部平的鉆石的下部平面傳出的光;和
一個光學測量裝置,它能夠測量由所述光檢測器檢測的光。
2.一種鉆石顏色測量設備包含:
一個用于容納鉆石的表面;
一個光檢測器,設置成當所述表面容納這種鉆石時,檢測以一個特定角度從下部平的鉆石的下部平面傳出的光;????
一個漫射體;和
一個光學測量裝置,它能夠測量由所述光檢測器檢測的光。
3.一種鉆石顏色測量設備包含:
一個用于容納鉆石的表面;
一個光檢測器,設置成當所述表面容納這種鉆石時,檢測直接從下部平的鉆石的下部平面傳出的光;和
一個光學測量裝置,它能夠測量由所述光檢測器檢測的光。
4.根據權利要求1、2或3所述的鉆石顏色測量設備,其中所述光檢測器設置成當所述表面容納這種鉆石時,以便檢測相對于下部平的鉆石的平面以0到約45度之間的一個角度,直接從下部平的鉆石的下部平面發出的光。
5.一種鉆石顏色測量設備包含:
一個用于容納鉆石的表面;????
一個光檢測器,設置成當所述表面容納這種鉆石時,檢測以一個特定角度從下部平的鉆石的下部平面傳出的光;
一個漫射體,設置在所述光檢測器的檢測路徑之外;和
一個光學測量裝置,它能夠測量由所述光檢測器檢測的光。
6.根據權利要求1、2或3所述的鉆石顏色測量設備,其中所述表面包含一個平臺。
7.根據權利要求1、2或3所述的鉆石顏色測量設備,其中所述表面包含一個轉動平臺。
8.根據權利要求1、2或3所述的鉆石顏色測量設備,其中所述表面包含一個能夠旋轉360度的轉動平臺。
9.根據權利要求1、2或3所述的鉆石顏色測量設備,還包含一測量室,當所述表面容納這種鉆石時,它至少部分地包圍該鉆石。
10.根據權利要求1、2或3所述的鉆石顏色測量設備,其中所述表面包含一個轉動平臺和一個轉動體,它可以設置成允許在一完整旋轉期間由所述光學測量裝置進行測量。
11.根據權利要求4所述的鉆石顏色測量設備,其中當所述表面容納這種鉆石時,所述漫射體至少部分阻止光直接照亮鉆石。
12.根據權利要求1、2或3所述的鉆石顏色測量設備,其中所述表面是用于校準目的的白色基準。
13.根據權利要求1、2或3所述的鉆石顏色測量設備,其中當所述表面容納這種鉆石時,所述光檢測器對準鉆石水平中點。
14.根據權利要求2所述的鉆石顏色測量設備,其中所述漫射體是光傳導漫射體。
15.根據權利要求5所述的鉆石顏色測量設備,其中所述漫射體是光傳導漫射體。
16.根據權利要求1、2或3所述的鉆石顏色測量設備,其中所述光檢測器還包含一準直儀。
17.一種鉆石顏色測量系統包含:
一個用于容納鉆石的表面;
一個近似日光的照明源,當所述表面容納這種鉆石時,它能夠照亮鉆石;
一個光檢測器,設置成當所述表面容納這種鉆石時,檢測以一個特定角度從下部平的鉆石的下部平面傳出的光;和
一個光學測量裝置,它能夠測量由所述光檢測器檢測的光。
18.一種鉆石顏色測量系統包含:
一個用于容納鉆石的表面;
一個近似日光的照明源,它能夠照亮所述表面容納的鉆石;
一個光檢測器,設置成當所述表面容納這種鉆石時,檢測以一個特定角度從下部平的鉆石的下部平面傳出的光;
一個漫射體;和
一個光學測量裝置,它能夠測量由所述光檢測器檢測的光。??
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