[發明專利]檢測印刷電路板缺陷的方法和系統

無效

• 申請號: 01803867.0
• 申請日: 2001-01-17
• 公開（公告）號: CN1401107A
• 公開（公告）日: 2003-03-05
• 發明（設計）人: A·考奧貝;M·坎廷;L·貝拉爾;J·戈澤爾
• 申請（專利權）人: 索威森公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所
• 代理人: 李崢,于靜

1.檢測具有至少一層包含組件的印刷電路板(PCB)上表面缺陷的方法，該方法包括：

提供PCB的數字圖像；

識別所述PCB圖像上的邊緣；

對所述PCB的至少一層上的每一組件提供對應的計算機模型；

通過比較所述被識別的邊緣與所述計算機模型檢測PCB圖像上的異常；以及

對于每一所述被檢測的異常，確定所述被檢測到的異常是否對應于一個表面缺陷。

2.如權利要求1所述用于檢測PCB上表面缺陷的方法，其中所述至少一層上每一組件的所述計算機模型包含線段。

3.如權利要求1所述用于檢測PCB上表面缺陷的方法，其中所述邊緣識別步驟包括：

計算所述PCB圖像上的數值梯度以產生梯度圖像；

閾值處理所述梯度圖像以產生閾值處理后的圖像；

對所述閾值處理后的圖像的骨架化；以及

在骨架化的圖像上找出邊緣。

4.如權利要求3所述用于檢測PCB上表面缺陷的方法，其中邊緣找出步驟產生至少一串像素，并包含：

作為像素坐標矢量保存所述骨架化的圖像的所述至少一個像素串的每一個；

使用所述像素坐標估計所述至少一個像素串的二階導數；以及

估計所述二階導數為零的通路的坐標；

從而，零通路對應于所述邊緣。

5.如權利要求3所述用于檢測PCB上表面缺陷的方法，還包括校正PCB圖像的光度。

6.如權利要求5所述用于檢測PCB上表面缺陷的方法，還包括過濾已校正的圖像；

7.如權利要求1所述用于檢測PCB上表面缺陷的方法，其中所述提供的計算機模型包含對所述每一層的矢量模型。

8.如權利要求7所述用于檢測PCB上表面缺陷的方法，其中所述矢量模型包含每層上每一組件的多邊形表示。

9.如權利要求2所述用于檢測PCB上表面缺陷的方法，其中在異常檢測步驟之前所述計算機模型的所述至少一層的每一個與所述PCB圖像對準。

10.如權利要求9所述用于檢測PCB上表面缺陷的方法，其中對于計算機模型所述至少一層的每一個在PCB圖像上選擇至少一個基準點；所述基準點被用來使所述對應的層與所述PCB圖像對準。

11.如權利要求9所述用于檢測PCB上表面缺陷的方法，其中在所述計算機模型每一層的每一線段上施加變換，使所述每一層與所述PCB圖像對準，以便補償所述每一層的旋轉、平移、縮放和不良透視中的至少一個。

12.如權利要求9所述用于檢測PCB上表面缺陷的方法，其中所述對準的層是疊加的。

13.如權利要求12所述用于檢測PCB上表面缺陷的方法，其中所述提供的計算機模型是矢量模型，包含每一層上每一組件的多邊形表示；所述多邊形包含至少一個線段；所述計算機模型的所述層是通過疊加來自每一層的每一多邊形與來自其它層的每一多邊形而被疊加的。

14.如權利要求13所述用于檢測PCB上表面缺陷的方法，其中所述疊加是對于每一層使用以下迭代公式進行的：

Pv_k+1＝(Pv_k-P_k+1)∪P_k+1

這里

P_k是當前層中線段的矢量表示列表；

Pv_k是通過先前層疊加產生的線段的矢量表示的列表；

Pv_k+1是通過疊加一層與先前的層的疊加產生的線段的矢量表示的列表；及

Pv＝P₁。

15.如權利要求1所述用于檢測PCB上表面缺陷的方法，其中所述計算機模型包含每一組件的輪廓。

16.如權利要求15所述用于檢測PCB上表面缺陷的方法，其中所述計算機模型對于每一輪廓還包括圍住所述輪廓的矩形的模型。