[發明專利]光譜分析儀

有效

• 申請號: 01803459.4
• 申請日: 2001-01-04
• 公開（公告）號: CN1394275A
• 公開（公告）日: 2003-01-29
• 發明（設計）人: 何剛;D·加里皮;G·W·希恩
• 申請（專利權）人: 埃科斯弗電光工程公司
• 主分類號: G01J3/12
• 分類號: G01J3/12;G01J4/02;G01J3/447
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所
• 代理人: 楊曉光,于靜

1.一種光譜分析儀，其特征在于：一個衍射光柵(DG)；輸入裝置(PDM，FP1/1，FP1/2)，它包括用于將輸入光束分解的裝置(PDM)，以便提供第一和第二光束(LR，LT)，第一和第二光束(LR，LT)各有一個線偏振態，該線偏振態相應于輸入光束的兩個相互垂直的線偏振態中的一個；用于使第一和第二光束射向衍射光柵(DG)的裝置(FP1/1，FP1/2)；及輸出裝置，用于使第一和第二光束在衍射之后射向兩個輸出端口(FP2/1，FP2/2)，以使每個端口都基本上是在通過衍射光柵衍射之后，在一選定波長處或者在一選定波長附近，只接收相應的一個光束，安排是這樣的，即在分析儀工作波長帶內任一特定波長處，使第一和第二光束的每一個的偏振態都基本上保持不隨時間而變。

2.根據權利要求1的光譜分析儀，其特征在于：第一和第二光束的每一個都在其的線偏振態平行于衍射光柵相應的衍射平面的情況下，入射到衍射光柵(DG)上。

3.根據權利要求1或2的光譜分析儀，其特征在于：輸入裝置包括：裝置(PMF1和PMF2)，用于使第一和第二光束線偏振態之一或二者與波長無關地旋轉，以使上述兩個線偏振態相互平行對準；裝置(FP1/1，FP1/2)，用于將第一和第二光束導向衍射光柵(DG)上，該裝置也是這樣，分別使第一和第二光束的線偏振態相互平行，并平行于衍射光柵相應的衍射平面。

4.根據權利要求3的光譜分析儀，其特征在于：實施旋轉的裝置(PMF1，PMF2)包括至少一個扭轉的偏振保持光纖(PMF2)。

5.根據上述權利要求中任意一個的光譜分析儀，其特征還在于：用于進行上述選定波長的掃描和選擇的調諧裝置(TT)。

6.根據上述權利要求中任意一個的光譜分析儀，其特征還在于：反射鏡裝置(RAM)，用于反射在第一次衍射之后離開衍射光柵的上述第一和第二光束(LR，LT)，以便使上述第一和第二光束以一定的移位返回到衍射光柵，該移位垂直于發生第一次衍射的衍射平面，以便使光束進行第二次衍射，并且輸出裝置使光束在第二次衍射之后射向輸出端口(FP2/1，FP2/2)。

7.根據上述權利要求中的任意一個的光譜分析儀，其特征在于：衍射光柵基本上是平面，并且輸入裝置還包括準直裝置(L1，PM1)，該準直裝置(L1，PM1)用于使上述從導向裝置(FP1/1，FP1/2)射出的上述第一和第二光束中的每個都基本上準直，并將準直的第一和第二光束加到衍射光柵(DG上)，而輸出裝置還包括聚焦裝置(L2；PM2)，用于將衍射的準直光束分別聚焦到輸出端口(FP2/1，FP2/2)上。

8.根據權利要求7的光譜分析儀，其特征在于：準直裝置包括一個透鏡(L1)。

9.根據權利要求7或8的光譜分析儀，其特征在于：聚焦裝置包括一個透鏡(L2)。

10.根據權利要求7的光譜分析儀，其特征在于：準直裝置包括一個設置在定向裝置(FP1/1，FP1/2)和衍射光柵之間的偏軸拋物面鏡(PM1)，用于使從導向裝置射出的第一和第二光束準直，并將準直的光束加到衍射光柵(DG)上。

11.根據權利要求7的光譜分析儀，其特征在于：聚焦裝置包括一個設置在衍射光柵和輸出端口(FP2/1，FP2/2)之間的偏軸拋物面鏡(PM2)，用于收集從衍射光柵(DG)射出的基本上準直的光束，并將上述光束分別聚焦到輸出端口(FP2/1，FP2/2)上。

12.根據權利要求7的光譜分析儀，其特征在于：準直裝置包括一個設置在定向裝置(FP1/1，FP1/2)和衍射光柵之間的偏軸拋物面鏡(PM1)，用于使從定向裝置射出的第一和第二光束準直，并將準直的光束加到衍射光柵(DG)上，其中聚焦裝置包括一個設置在衍射光柵和輸出端口之間的第二偏軸拋物面鏡(PM2)，用于接收從衍射光柵(DG)射出的基本上準直的光束，并將上述光束分別聚焦到輸出端口(FP2/1，FP2/2)上。

13.根據權利要求6的光譜分析儀，其特征在于：反射鏡裝置(RAM)包括一個平面鏡。

14.根據權利要求4、5、6、7、8或9的光譜分析儀，其特征還在于一個位于每個準直光束的路線中的平面反射鏡(M)。