[發明專利]折射能力測定方法及其裝置

無效

• 申請號: 01802360.6
• 申請日: 2001-08-13
• 公開（公告）號: CN1388895A
• 公開（公告）日: 2003-01-01
• 發明（設計）人: 福間康文;加藤健行
• 申請（專利權）人: 株式會社拓普康
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 上海專利商標事務所
• 代理人: 孫敬國

1.一種折射能力測定方法，它是用于求取軟性隱形眼鏡的光學特性值的折射能力測定方法，其特征在于，

當在空氣中將潤濕狀態的所述軟性隱形眼鏡放置在測量光路中時，由受光元件接收被所述軟性隱形眼鏡散射的散射光，從接收散射光的所述受光元件所輸出的受光信號的變化中，求出所述散射光的散射狀態，同時，在該受光信號滿足規定條件時求出所述光學特性值。

2.如權利要求1所述的折射能力測定方法，其特征在于，

在空氣中將潤濕狀態的所述軟性隱形眼鏡放置在測量光路中，由所述受光元件接收所述測量光透過軟性隱形眼鏡被散射時的散射光，由此，從由所述受光元件接收的所述圖案光的變化所伴隨的所述受光信號的變化中，求得所述散射光的散射狀態，在從所述受光元件輸出的受光信號滿足規定條件時求出所述光學特性值。

3.如權利要求1所述的折射能力測定方法，其特征在于，

接收所述散射光的受光元件為與折射能力測定用的受光元件分開設置的、表面反射受光用的第2受光元件，同時，

在空氣中將潤濕狀態的所述軟性隱形眼鏡放置在測量光路中，將所述測量光投射到軟性隱形眼鏡，由所述第2受光元件接收所述測量光被所述軟性隱形眼鏡的表面反射時所產生的散射光的散射狀態，從所述第2受光元件的所述受光信號的變化中求出所述散射光的散射狀態，在從所述第2受光元件輸出的受光信號滿足規定條件時，根據從折射能力測定用的受光元件輸出的受光信號，求出所述光學特性值。

4.如權利要求1所述的折射能力測定方法，其特征在于，

為了接收所述散射光，與折射能力測定用的受光元件分開設置CCD攝像機，同時，在對來自所述CCD攝像機的圖像信號進行圖像處理后獲得的圖像數據與軟性隱形眼鏡表面平滑時預先獲得的圖像數據大致一致時，判斷所述軟性隱形眼鏡的表面反射光的散射狀態滿足規定條件，根據從折射能力測定用的受光元件輸出的受光信號，求出所述光學特性值。

5.如權利要求1所述的折射能力測定方法，其特征在于，

在開始所述軟性隱形眼鏡的測定時，以生理鹽水潤濕所述軟性隱形眼鏡。

6.如權利要求1所述的折射能力測定方法，其特征在于，

從在所述軟性隱形眼鏡的表面上附有大量液體的測定開始時起，經過所述液體被軟性隱形眼鏡吸收或者蒸發或者流下而軟性隱形眼鏡表面的液體為均勻的層狀的測定中期，變化到吸收軟性隱形眼鏡的水分并逐漸干燥而軟性隱形眼鏡的表面變為粗糙狀態的測定后期，從所述測定中期的所述受光信號求出所述軟性隱形眼鏡的光學特性。

7.一種折射能力測定裝置，它是用于求出軟性隱形眼鏡的光學特性值的折射能力測定裝置，其特征在于，

具備當在空氣中將潤濕狀態的所述軟性隱形眼鏡配置在測量光路中時接收被所述軟性隱形眼鏡散射的散射光的受光元件、以及在從該受光元件輸出的受光信號滿足規定條件時求出所述光學特性值的運算手段。

8.如權利要求7所述的折射能力測定裝置，其特征在于，

所述受光元件為折射能力測定用的受光元件，同時，

所述運算手段在空氣中將潤濕狀態的所述軟性隱形眼鏡配置在測量光路中，并且由所述受光元件接收所述測量光透過軟性隱形眼鏡并散射時的散射光，以此開始進行測定的同時從由所述受光元件接收的所述圖案光的變化所伴隨的所述受光信號的變化，求得所述所述散射光的散射狀態，在所述受光信號滿足規定條件時求出所述光學特性值。

9.如權利要求7所述的折射能力測定裝置，其特征在于，

所述受光元件為與折射能力測定用的受光元件分開設置的表面反射受光用的第2受光元件，同時，

所述運算手段在空氣中將潤濕狀態的所述軟性隱形眼鏡配置在測量光路中，將所述測量光投射到軟性隱形眼鏡，由所述第2受光元件接收所述測量光被所述軟性隱形眼鏡的表面反射時所產生的散射光的散射狀態，從所述第2受光元件的所述受光信號的變化中求出所述散射光的散射狀態，在從所述第2受光元件輸出的受光信號滿足規定條件時，根據從折射能力測定用的受光元件輸出的受光信號，求出所述光學特性值。