[發明專利]視覺檢驗程序的編寫設備無效
| 申請號: | 01802276.6 | 申請日: | 2001-05-25 |
| 公開(公告)號: | CN1386193A | 公開(公告)日: | 2002-12-18 |
| 發明(設計)人: | 增田剛;白澤滿 | 申請(專利權)人: | 松下電工株式會社 |
| 主分類號: | G01N21/956 | 分類號: | G01N21/956;G01N21/88;G06T7/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人: | 馬瑩,邵亞麗 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 視覺 檢驗 程序 編寫 設備 | ||
1.一種視覺檢驗程序的編寫設備,包括:
圖像數據存儲器,用于存儲多個要檢驗的對象的有缺陷單元和無缺陷單元的樣本圖像數據,這些數據是事先由用戶準備好的;
算法存儲器,用于存儲多個關于每個檢驗項目的圖像處理算法;
標準檢驗流存儲器,用于存儲至少一種標準檢驗流,以及關于要檢驗的對象的每一種的多個檢驗參數;
具有監視器顯示裝置的顯示單元,用于至少顯示編寫步驟的一種指導;
輸入單元,用戶通過輸入單元輸入或選擇一種他希望檢驗的對象,至少選擇一種圖像處理算法以及至少一個檢驗參數;以及
檢驗處理器,用于顯示編寫步驟的指導,自動從對應于由用戶輸入或選擇的對象的類別的標準檢驗流中選擇一標準檢驗流,從算法存儲器中讀出至少一種圖像處理算法,從對應于用戶的選擇的標準檢驗流存儲器中讀出至少一個檢驗參數,利用該檢驗標準檢驗流、圖像處理算法和檢驗參數編寫一個臨時視覺檢驗程序,根據該臨時視覺檢驗程序處理有缺陷單元和無缺陷單元的樣本圖像數據,執行視覺檢驗來利用所處理的數據檢驗關于每一樣本圖像數據的對象的外觀是否有缺陷,在顯示單元的監視器顯示裝置上顯示樣本圖像數據的視覺檢驗結果,詢問用戶該臨時視覺檢驗程序是否合適,當用戶判定該臨時視覺檢驗程序合適時,輸出該臨時視覺檢驗程序作為最終視覺檢驗程序。
2.根據權利要求1的編程設備,其中當用戶判定該臨時視覺檢驗程序不合適時,該檢驗處理器還請求用戶更換至少一種圖像處理算法和/或至少一個檢驗參數。
3.根據權利要求2的編程設備,其中該檢驗處理器反復請求用戶更換至少一種圖像處理算法和/或至少一個檢驗參數,直到判定出該臨時視覺檢驗程序合適為止。
4.根據權利要求1-3之一的編程設備,其中該圖像數據存儲器將有缺陷單元的每一樣本圖像數據以及該缺陷的成因信息一起進行存儲。
5.根據權利要求1-3之一的編程設備,其中有缺陷單元和無缺陷單元的樣本圖像數據對應于缺陷等級和質量等級分別歸入圖像數據存儲器。
6.根據權利要求1-3之一的編程設備,其中在獲得有缺陷單元和無缺陷單元的樣本圖像數據時,將該樣本圖像數據對應于照明方法或條件歸入圖像數據存儲器。
7.根據權利要求1-6之一的編程設備,其中標準檢驗流存儲器將該標準檢驗流與至少一個對應于對象的表面特性或材料的檢驗參數一起存儲。
8.根據權利要求1-6之一的編程設備,其中標準檢驗流存儲器將該標準檢驗流與至少一個對應于對象的表面色彩的檢驗參數一起存儲。
9.根據權利要求1-6之一的編程設備,其中標準檢驗流存儲器存儲標準檢驗流、至少一種圖像處理算法和至少一個由專家關于每種對象推薦的檢驗參數的組合。
10.根據權利要求1-6之一的編程設備,其中標準檢驗流存儲器存儲標準檢驗流、多種圖像處理算法和至少一個具有由專家關于每種對象推薦的圖像處理算法的優先權的檢驗參數的組合。
11.根據權利要求1-6之一的編程設備,其中標準檢驗流存儲器存儲標準檢驗流、至少一種圖像處理算法和多個具有由專家關于每種對象推薦的圖像處理算法的優先權的檢驗參數的組合。
12.根據權利要求1-6之一的編程設備,其中標準檢驗流存儲器存儲每個檢驗參數的初始值、變更每個檢驗參數的值的寬度和方向以及每個檢驗參數的值的變化范圍的上限和下限。
13.根據權利要求1-12之一的編程設備,其中檢驗處理器將關于每個樣本圖像數據的視覺檢驗結果與用在視覺檢驗中的有缺陷單元和無缺陷單元的樣本圖像數據比較,對與樣本圖像數據的有缺陷單元或無缺陷單元一致的檢驗結果的數目計數,并且以變更的檢驗參數重復樣本圖像數據的視覺檢驗,直到所計的數達到一個預定值。
14.根據權利要求13的編程設備,其中檢驗處理器反復請求用戶變更檢驗參數,直到所計的數達到一個預定值。
15.根據權利要求1-13之一的編程設備,其中檢驗處理器還利用樣本圖像數據在顯示單元的監視器顯示裝置上顯示至少一圖像。
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