[發(fā)明專利]導(dǎo)電性接觸件有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 01802211.1 | 申請日: | 2001-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN1386197A | 公開(公告)日: | 2002-12-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 風間俊男 | 申請(專利權(quán))人: | 日本發(fā)條株式會社 |
| 主分類號: | G01R1/067 | 分類號: | G01R1/067;H01L21/66;H01R13/24;H01R33/76 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標事務(wù)所 | 代理人: | 王永剛 |
| 地址: | 日本神*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 導(dǎo)電性 接觸 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及到一種適用于半導(dǎo)體器件領(lǐng)域的測試和其它應(yīng)用的導(dǎo)電性接觸件。
發(fā)明背景
一般地,各種各樣的導(dǎo)電性接觸件已經(jīng)在如下方面得到應(yīng)用:對印刷電路板和電子元件的導(dǎo)電圖形進行電學(xué)測試(開/短路測試、環(huán)境測試、老化測試等等),以及用在測試晶片和電接頭的接觸探頭上。
對于這樣的導(dǎo)電性接觸件,當待測目標(例如半導(dǎo)體器件的接頭)的接觸部分是用焊料制成或是被焊料覆蓋時,導(dǎo)電性接觸件在這種接頭上的重復(fù)使用會導(dǎo)致其尖端產(chǎn)生焊料沉積,該尖端呈針狀或線圈狀。
通常,導(dǎo)電性接觸件要經(jīng)過表面鍍金處理(其中摻入例如0.3%~4%的鈷),以保證穩(wěn)定的電學(xué)性能和低的電阻。然而,在上述的焊料沉積過程中,導(dǎo)電性接觸件導(dǎo)電通路上的電阻就會偏離期望的范圍,測試的精度就有可能受損。因此,有必要在測試精度降到規(guī)定水平之前更換導(dǎo)電性接觸件。其結(jié)果是,導(dǎo)電性接觸件必須經(jīng)常被更換下來進行清潔,以至于測試線的效率降低,保養(yǎng)費用增加。
發(fā)明簡述
為消除現(xiàn)有技術(shù)的這些問題,本發(fā)明的主要目的就在于提供一種導(dǎo)電性接觸件,相對于傳統(tǒng)的導(dǎo)電性接觸件來說,它因焊料沉積而造成的更換次數(shù)要少得多。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種導(dǎo)電性接觸件,它在長時間后仍顯示出低的電阻,從而它的使用壽命比傳統(tǒng)的導(dǎo)電性接觸件更長。
本發(fā)明的又一目的在于提供一種導(dǎo)電性接觸件,它具有能夠耐焊料沉積的接觸部分。
根據(jù)本發(fā)明,這些目的可以通過提供一種應(yīng)用到待接觸目標上建立電接觸的導(dǎo)電性接觸件而達到,該導(dǎo)電性接觸件包括一層至少是在其導(dǎo)電接觸部分形成的耐焊料沉積的高導(dǎo)電性材料層。高導(dǎo)電性材料層可以優(yōu)選地用電鍍法形成,也可以用其它方法,其中包括但不限于無電電鍍法、濺射法、PVD、CVD和熱噴鍍法等。優(yōu)選地,高導(dǎo)電性材料基本上由金構(gòu)成,并摻有0.01%~8%的銀。導(dǎo)電性接觸件可以呈螺簧狀、針狀或棒狀,它的端部可以是尖的或平的。
這樣,由于這種對焊料沉積的耐受性,即使被重復(fù)應(yīng)用到待接觸目標上,導(dǎo)電性接觸部分上的焊料沉積也將減至最小程度,導(dǎo)電性接觸部分的更換頻率也能降低。而且,盡管導(dǎo)電性接觸件的基本材料可能由具有良好力學(xué)性能的廉價材料組成,例如鋼,即使在穩(wěn)定狀態(tài)下經(jīng)過大量的測試周期或很長的工作時間之后,導(dǎo)電性接觸件依然能夠持續(xù)地顯示出低的電阻。
附圖簡述
下面參考附圖更詳細地介紹本發(fā)明。其中:
圖1為一個電接觸探頭的縱剖面圖,該探頭使用了實施本發(fā)明的螺簧狀導(dǎo)電性接觸件。
圖2為一線圈線的截斷透視圖,線圈線上形成了一層摻銀鍍金層。
圖3為圖2中的線圈線繞制起來之后的截斷透視圖。
圖4為在圖3中的裝置上形成第二層摻銀鍍金層之后的截斷透視圖。
圖5類似于圖1,示出了該接觸探頭的工作狀態(tài)。
圖6類似于圖1,示出了本發(fā)明的第二種實施方案。
圖7是一張放大的剖面圖,示出了該導(dǎo)電性接觸件頭部的狀態(tài),其上形成了一層摻銀鍍金層。
圖8類似于圖5,示出了圖6中接觸探頭的工作狀態(tài)。
圖9類似于圖7,示出了該接觸探頭的一種變更實施方案,其末端是平的。
圖10類似于圖1,示出了本發(fā)明的第三種實施方案。
圖11類似于圖1,示出了本發(fā)明的第四種實施方案。
圖12類似于圖1,示出了本發(fā)明的第五種實施方案。
圖13類似于圖1,示出了本發(fā)明的第六種實施方案。
具體實施方案詳述
圖1是實施了本發(fā)明的導(dǎo)電性接觸件3基本部分放大的剖面?zhèn)纫晥D),該導(dǎo)電性接觸件用在接觸半導(dǎo)體器件用的接觸探頭上。在所示的導(dǎo)電探頭中,一對塑料的絕緣板狀構(gòu)件1a和1b緊密地堆疊起來,組成一個整體,形成了電絕緣支架1,通孔2(圖中僅示出其中的一個)穿過支架1的整個厚度。每個通孔2中同軸地容納了一個螺簧狀導(dǎo)電性接觸件3。
通孔2具有:位于其軸向的中部的垂直主體部分,具有恒定的直徑和規(guī)定的長度;還有一對錐形部分2a,它們各有一個較窄的尾端,分別開向支架1的上端或下端,如圖所示。每個錐形部分2a縮小的開口端通過一小直徑部分2b與通孔2的外表相通,小直徑部分2b具有恒定的直徑和規(guī)定的長度。
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