[發明專利]受光元件和使用受光元件的光檢測器

無效

• 申請號: 01801906.4
• 申請日: 2001-07-10
• 公開（公告）號: CN1383581A
• 公開（公告）日: 2002-12-04
• 發明（設計）人: 田上高志;仲間健一
• 申請（專利權）人: 日本板硝子株式會社
• 主分類號: H01L31/16
• 分類號: H01L31/16;G01B11/00;G01J3/28
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 王以平

1.一種受光元件，是檢測長波段的光的光強度及其重心位置的受光元件，其特征在于，備有：

由III-V族化合物半導體構成的層，

設在上述層的表面上的第1導電型電阻層，

設在上述層的背面上的其導電型與上述第1導電型的第2導電型基板，以及

設在上述電阻層上的對置的至少一對電極。

2.根據權利要求1所述的受光元件，其特征在于，上述III-V族化合物半導體從由InGaAs、GaAs、AlGaAs、InAs、InGaAsP組成的組中選擇。

3.根據權利要求2所述的受光元件，其特征在于，上述III-V族化合物半導體是InGaAs。

4.根據權利要求3所述的受光元件，其特征在于，在上述第1導電型是p型，上述第2導電型是n型時，上述第1導電型的電阻層是p型InP層，上述第2導電型的基板是n型InP基板。

5.一種光檢測器，是檢測從分時成N個(N是大于2的整數)的波長多路復用的信號光所分波的各分波光的強度及其重心位置的光檢測器，其特征在于，

備有權利要求1～4中的任何一項中所述的一個受光元件，對照各分波光的入射的時刻，把時間分割成N個而驅動該受光元件。

6.一種光檢測器，是檢測從分時成N個(N是大于2的整數)的波長多路復用的信號光所分波的各分波光的強度及其重心位置的光檢測器，其特征在于，

一維地排列N個權利要求1～4中的任何一項中所述的受光元件。

7.一種光檢測器，是檢測從分時成N個(N是大于2的整數)的波長多路復用的信號光所分波的各分波光的強度及其重心位置的光檢測器，其特征在于，

備有一維地排列有權利要求1～4中的任何一項中所述的N個受光元件的第1光檢測部，該第1光檢測部檢測各分波光的光強度的重心位置，

備有一維地排列有N個受光元件的第2光檢測部，該第2光檢測部檢測各分波光的光強度。

8.根據權利要求7中所述的光檢測器，其特征在于，上述第2光檢測部的受光元件是光電二極管。

9.一種光檢測器，是檢測從包括多個波長的波段多路復用的信號光所分波的各分波光的強度及其重心位置的光檢測器，其特征在于，

與各波段對應地一維地排列有權利要求1～4中的任何一項中所述的多個受光元件。

10.一種光分波器，是把波長多路復用傳送來的信號光分波的光分波器，其特征在于，備有：

把上述入射光分波的光學機構，和

接受靠上述光學機構所分波的分波光的權利要求5中所述的光檢測器。

11.一種光分波器，是把波長多路復用傳送來的信號光分波的光分波器，其特征在于，備有：

把上述入射光分波的光學機構，和

接受靠上述光學機構所分波的分波光的權利要求6中所述的光檢測器。

12.一種光分波器，是把波長多路復用傳送來的信號光分波的光分波器，其特征在于，備有：

把上述入射光分離成兩路的光學機構，

把上述被分離的一路入射光分波的第1光學機構，

把上述被分離的另一路入射光分波的第2光學機構，

接受在上述第1光學機構中所分波的分波光，檢測各分波光的光強度重心位置的權利要求6中所述的光檢測器，以及

接受在上述第2光學機構中所分波的分波光，檢測各分波光的光強度的受光元件陣列。

13.根據權利要求12中所述的光分波器，其特征在于，上述受光元件陣列是光電二極管陣列。

14.一種光分波器，是把包含多個波長的波段多個多路復用的信號光分波的光分波器，其特征在于，備有：

把上述入射光分波成按各波段的分波光的光學機構，和

排列有多個接受各波段的分波光的權利要求6中所述的光檢測器的受光機構。