[實用新型]可用于高溫樣品的對稱雙永磁體霍爾測量裝置

無效

• 申請號: 01268440.6
• 申請日: 2001-11-13
• 公開（公告）號: CN2504635Y
• 公開（公告）日: 2002-08-07
• 發明（設計）人: 何禮熊
• 申請（專利權）人: 福州大學
• 主分類號: G01N27/72
• 分類號: G01N27/72;G01R33/12
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.可用于高溫樣品的對稱雙永磁體霍爾測量裝置，其特征在于：圓盤形鋼底座(1)上抽氣孔(4)通過抽氣閥(5)與低真空機械泵連接，另有進氣孔(6)通過進氣閥(7)與氣源連接，高溫樣品架設計包含兩個柱形加熱器(10、11)、樣品平臺板(12)和支架部分，用矩形無氧銅板作樣品平臺，兩側卷成的柱形內安裝瓷管加熱器，樣品平臺上方中心安放待測的霍爾元件，平臺一側安裝熱電偶感溫元件(13)，樣品平臺先通過四根不銹鋼薄條(15、16、17、28)支撐在鋁側板(18、19)上，再與兼作為熱沉的圓盤形鋼底座(1)連接，兩鋁側板之間連接有線路接線板(20)，磁場源設計部分包含兩個極性相反且中軸線相隔一定距離的的柱形永磁體(21、22)、承載永磁體的可左右滑動的上鋁架(23)，以及與樣品平臺固定連接且位置固定不變的下鋁架(24)。