[實(shí)用新型]金屬化薄膜測(cè)試儀

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 01225863.6
• 申請(qǐng)日: 2001-05-30
• 公開（公告）號(hào): CN2532487Y
• 公開（公告）日: 2003-01-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 顧志軍;余柏南;楊成榮
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 安徽銅峰電子(集團(tuán))公司
• 主分類號(hào): G01N27/00
• 分類號(hào): G01N27/00;G01N27/04;G01R31/12
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

本實(shí)用新型涉及對(duì)生產(chǎn)交流電容器的材料金屬化薄膜進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)的儀器。

目前，各廠家對(duì)金屬化薄膜的質(zhì)量檢測(cè)主要是針對(duì)其耐壓值、方阻、表面質(zhì)量及靜電吸附程度進(jìn)行檢查。測(cè)試耐壓值的裝置主要由高壓發(fā)生器、電壓取樣電路、電壓顯示電路、過(guò)流保護(hù)電路、測(cè)試電極組成，其測(cè)試電極為一對(duì)金屬球探頭，高壓發(fā)生器的輸出電壓通過(guò)金屬球探頭加在薄膜的某一點(diǎn)上，調(diào)節(jié)高壓發(fā)生器的輸出電壓，即可測(cè)試該點(diǎn)薄膜的耐壓值，并通過(guò)顯示電路顯示。當(dāng)該點(diǎn)薄膜發(fā)生擊穿時(shí)，過(guò)流保護(hù)電路工作，切斷輸出電壓。測(cè)試幾十個(gè)點(diǎn)的耐壓值并求出其平均值，該值即為薄膜的耐壓值。由于薄膜鍍層的薄弱點(diǎn)分布不均，對(duì)幾十個(gè)取樣點(diǎn)的測(cè)試結(jié)果并不能真實(shí)全面地反映薄膜的最薄弱點(diǎn)，不能真實(shí)反映金屬化薄膜的實(shí)際耐電壓值。

方阻測(cè)試采用面接觸法測(cè)試一定面積鍍層的平均方阻值，其測(cè)試裝置由兩根測(cè)試電棒、撥盤開關(guān)、電阻取樣電路、運(yùn)算電路、方阻顯示電路組成，測(cè)試時(shí)將薄膜的金屬面朝下，雙手拉緊薄膜，使薄膜金屬面接觸相隔一定長(zhǎng)度的二根金屬測(cè)試電棒，測(cè)量其電阻，將薄膜寬度數(shù)值通過(guò)撥盤開關(guān)輸入轉(zhuǎn)換成電信號(hào)后送至運(yùn)算電路，薄膜的長(zhǎng)度、寬度及電阻數(shù)值經(jīng)運(yùn)算電路處理，由方阻顯示電路顯示數(shù)值。測(cè)試時(shí)由于需用雙手拉緊薄膜，薄膜易發(fā)生變形、皺折，而且用雙手將薄膜與測(cè)試電棒接觸，容易產(chǎn)生接觸不良，使測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。

表面質(zhì)量檢查，是對(duì)金屬化薄膜表面質(zhì)量進(jìn)行直觀檢查，即將被測(cè)薄膜透過(guò)燈光觀察其表面缺陷。

而目前無(wú)論是金屬化薄膜生產(chǎn)廠還是薄膜電容器生產(chǎn)廠，還沒(méi)有一套專用測(cè)試設(shè)備對(duì)金屬化薄膜的耐電壓值、方阻及表面質(zhì)量等產(chǎn)品質(zhì)量進(jìn)行綜合檢測(cè)，通常是不同指標(biāo)用不同的測(cè)試設(shè)備，既不方便，各設(shè)備占用空間也較多，不利于生產(chǎn)管理。

本實(shí)用新型的目的是提供一種能夠較真實(shí)地測(cè)量金屬化薄膜耐壓值的測(cè)試儀，另一個(gè)目的是提供一種能夠檢測(cè)幾種不同質(zhì)量指標(biāo)的測(cè)試儀。

本實(shí)用新型金屬化薄膜測(cè)試儀由高壓發(fā)生器、電壓取樣電路、電壓顯示電路、過(guò)流保護(hù)電路、測(cè)試電極和工作臺(tái)組成，測(cè)試電極由固定在工作臺(tái)上的活動(dòng)電極和固定電極組成，固定電極為具有一定表面積的導(dǎo)電板。該測(cè)試儀還包括一個(gè)自愈電壓保持電路，當(dāng)薄膜首次發(fā)生自愈時(shí)輸出電信號(hào)，使電壓顯示電路顯示的電壓值保持不變。

該測(cè)試儀還包括一個(gè)方阻測(cè)試裝置，該裝置由兩根測(cè)試電棒、數(shù)值輸入電路、電阻取樣電路、運(yùn)算電路及方阻顯示電路組成，兩根測(cè)試電棒一端與工作臺(tái)活動(dòng)連接，并且相隔一定距離，即待測(cè)薄膜的長(zhǎng)度值，用來(lái)測(cè)量薄膜的電阻，數(shù)值輸入電路用來(lái)將薄膜寬度數(shù)值轉(zhuǎn)化成電信號(hào)；運(yùn)算電路用來(lái)將上述薄膜電阻、長(zhǎng)度、寬度運(yùn)算成方阻電信號(hào)，并由方阻顯示電路顯示方阻值。

上述測(cè)試儀的工作臺(tái)面上還設(shè)有一塊透明玻璃，玻璃下方裝有照明燈具，用來(lái)檢測(cè)薄膜表面質(zhì)量。

上述工作臺(tái)的一端還有與工作臺(tái)相連的膜卷支架，膜卷可安裝在支架上，將薄膜垂直放下即可觀察其靜電吸附情況。

本實(shí)用新型金屬化薄膜測(cè)試儀由于采用大面積的導(dǎo)電板作電極，測(cè)量的耐壓值較全面真實(shí)地反映薄膜實(shí)際耐電壓情況，還可精確地測(cè)出首次自愈電壓。測(cè)試方阻時(shí)，薄膜金屬面朝上平放在工作臺(tái)上，再將測(cè)試電棒壓緊在薄膜上，避免了因薄膜變形、接觸不良而造成的測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。另外將方阻測(cè)試，表面質(zhì)量檢查及靜電吸附程度檢查設(shè)備集中在一個(gè)工作臺(tái)上，不僅占地空間減少，設(shè)備易于管理，而且測(cè)試更方便快捷，可以提高工作效率。

圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為耐壓自愈電壓測(cè)試電路方框圖。

圖3為耐壓及自愈電壓測(cè)試電路圖。

圖4為方阻測(cè)試電路方框圖。

由圖1所示，長(zhǎng)方形工作臺(tái)1沿長(zhǎng)度方向中心線分成兩邊，上邊為耐壓及自愈電壓測(cè)試區(qū)，下邊為表面質(zhì)量及方阻測(cè)試區(qū)。金屬球電極3和測(cè)試電棒5由轉(zhuǎn)軸固定在工作臺(tái)中心線上，長(zhǎng)方形導(dǎo)電板2固定在工作臺(tái)上邊。金屬球電極3的球頭可轉(zhuǎn)動(dòng)至導(dǎo)電板2上，通過(guò)薄膜可與導(dǎo)電板2形成電極對(duì)。透明玻璃4和絕緣橡膠墊6并排固定在工作臺(tái)1下邊。兩個(gè)電棒5之間相隔一定距離并位于橡膠墊6一側(cè)，轉(zhuǎn)動(dòng)電棒5可使電棒平行位于橡膠墊6上。透明玻璃4下方有空腔，空腔內(nèi)裝有照明燈具。工作臺(tái)一端連有T形膜卷支架8，膜卷7安裝在支架8兩端。