[發明專利]眼鏡片加工方法、檢片計和帶檢片計等的眼鏡片加工裝置

無效

• 申請號: 01143552.6
• 申請日: 2001-12-11
• 公開（公告）號: CN1359019A
• 公開（公告）日: 2002-07-17
• 發明（設計）人: 大丸孝司;寒川正彥
• 申請（專利權）人: 保谷株式會社
• 主分類號: G02C7/02
• 分類號: G02C7/02;G01M11/02
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 李德山

1.一種加工眼鏡片用的方法，包括對鏡片進行測量的步驟和進行加工的步驟，其中該測量步驟包括使用用于測量包括眼鏡片棱鏡值的光學特性的檢片計獲得包括光學參考點位置在內的光學信息；其中該加工步驟包括使用鏡片測量步驟中得到的光學信息作為用于加工的數據的一部分，其中該測量鏡片的步驟包括：

一測量步驟，其中使用按照需要在未割邊鏡片中選擇的點作為測量點，測量包括該鏡片的棱鏡值在內的光學特性；

一計算步驟，其中基于在測量步驟中得到的數據，計算出此未割邊鏡片的包括光學中心位置在內的光學參考點位置，

一標記步驟，其中在該測量點處或在關于該測量點的特定相對位置的點處設置標記；

一數據處理步驟，其中準備出描述該標記位置與包括光學中心位置在內的光學參考點位置之間關系的相對位置的數據，而且光學參考點位置由計算步驟中得出，以及

一存儲步驟，其中在數據處理步驟中得到的相對位置數據被按一定方式傳送給后一個步驟，使得該數據可以被讀出或以一種能夠被讀出的方式存儲在存儲介質或記錄介質中。

2.如權利要求1所述的加工眼鏡片用的方法，其中該加工步驟包括：

檢測未割邊鏡片上的標記，并測量該標記的位置，

讀出在存儲步驟中所存儲的相對位置的數據；

基于上面所得到的相對位置和上面所測量的標記位置的數據，確定未割邊鏡片的包括光學中心位置在內的光學參考點的位置，以及

利用上面確定的光學參考點的位置作為參考點，進行為加工而執行的必要處理。

3.一種檢片計，包括：

一用于測量光學特性的部分，其中使用按照需要在鏡片中選擇的點作為測量點，測量鏡片的包括棱鏡值在內的光學特性；

一用于標記的部分，其中在該測量點處或在相對該測量點的特定相對位置處設置一個標記；以及

一信息處理部分，其構成在于實現以下功能：

計算功能，用于在測量光學特性部分所得到的數據的基礎上計算未割邊鏡片的包括光學中心位置在內的光學參考點的位置；

數據處理功能，用于準備出描述該標記的位置與由計算功能得到的包括光學中心位置在內的光學參考點的位置之間的相對位置的數據，以及

保存數據的功能，用于將由數據處理功能所得到的相對位置數據傳送給后一個步驟，使得該數據可以被讀出或以一種能夠被讀出的方式存儲在存儲介質或記錄介質中。

4.一種用于加工眼鏡片的裝置，其包括如權利要求3所描述的檢片計。

5.用于加工眼鏡片的相對位置的數據，如從權利要求3所描述的數據處理功能中得到。