[發(fā)明專利]制造半導(dǎo)體器件的接觸的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 01139609.1 | 申請(qǐng)日: | 2001-11-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN1356719A | 公開(公告)日: | 2002-07-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄭丞弼;池京求;金智秀;秋昌雄;徐相勛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三星電子株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L21/30 | 分類號(hào): | H01L21/30;H01L21/768 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 謝麗娜,谷惠敏 |
| 地址: | 韓國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 制造 半導(dǎo)體器件 接觸 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體器件的接觸的制造方法,包括步驟:
提供半導(dǎo)體襯底,在該半導(dǎo)體襯底上,在包括硅的下層上形成了中間層;
利用光致抗蝕劑圖形作為蝕刻掩膜,在中間層中形成接觸孔,其中在接觸孔的底部露出下層的表面;
將該半導(dǎo)體襯底裝載到具有彼此相連的等離子體預(yù)處理艙和淀積艙的裝置中;
將半導(dǎo)體襯底傳送到等離子體預(yù)處理艙;
在等離子體預(yù)處理艙中灰化光致抗蝕劑圖形以便除去光致抗蝕劑圖形;
接著在等離子體預(yù)處理艙中除去下層表面的損壞層,該下層表面限定了接觸孔的底部;
接著在等離子體預(yù)處理艙中清潔該半導(dǎo)體襯底;
接著在真空中將半導(dǎo)體襯底傳送到淀積艙中;和
在淀積艙中將填充接觸孔的材料淀積到該襯底上。
2.權(quán)利要求1的方法,其中所述灰化、除去損壞層和預(yù)清潔的每個(gè)步驟都包括在預(yù)處理艙的外側(cè)利用微波激勵(lì)氣體以便誘發(fā)等離子態(tài),并且將該等離子態(tài)氣體導(dǎo)向預(yù)處理艙中的襯底。
3.權(quán)利要求2的方法,其中所述灰化步驟包括:在預(yù)處理艙中加熱襯底。
4.權(quán)利要求3的方法,其中所述加熱的步驟包括:在預(yù)處理艙中產(chǎn)生UV光。
5.權(quán)利要求4的方法,其中所述灰化的步驟包括:在預(yù)處理艙外利用微波激勵(lì)氮?dú)夂脱鯕庖哉T發(fā)等離子態(tài),給預(yù)處理艙中的襯底供應(yīng)等離子態(tài)的氮?dú)夂脱鯕狻?/p>
6.權(quán)利要求5的方法,其中所述灰化的步驟包括:以10-2,000sccm的速率供應(yīng)作為反應(yīng)氣體的氮?dú)夂鸵?0-2,000sccm的速率供應(yīng)作為反應(yīng)氣體的氧氣,用500-2,000W功率的微波激勵(lì)這些氣體,保持等離子體預(yù)處理艙中的壓力為0.1-10乇,將襯底的溫度調(diào)節(jié)到20-300℃,以及使UV燈工作在300-1,000W的功率,以便提供UV光。
7.權(quán)利要求1的方法,其中所述除去損壞層的步驟包括:在預(yù)處理艙的外側(cè)利用微波激勵(lì)氮?dú)夂脱鯕?,以誘發(fā)等離子態(tài),將等離子態(tài)的氮?dú)夂脱鯕庖约胺鶜怏w供應(yīng)給預(yù)處理艙中的襯底。
8.權(quán)利要求7的方法,其中氟基氣體為NF3。
9.權(quán)利要求8的方法,其中所述除去損壞層的步驟包括:以10-2,000sccm的速率供應(yīng)作為反應(yīng)氣體的氮?dú)夂鸵?0-2,000sccm的速率供應(yīng)作為反應(yīng)氣體的氧氣,以及以30-300sccm的速率供應(yīng)作為反應(yīng)氣體的NF3氣體,用500-2,000W功率的微波激勵(lì)該氮?dú)夂脱鯕猓3值入x子體預(yù)處理艙中的壓力為0.1-10乇,將半導(dǎo)體襯底的溫度調(diào)節(jié)到5-300℃。
10.權(quán)利要求1的方法,其中所述清潔步驟包括:將等離子態(tài)的氫氣和氟基氣體供應(yīng)到襯底上,以便引起與包括硅的下層上的氧化物層發(fā)生化學(xué)反應(yīng),從而形成反應(yīng)層,給反應(yīng)層退火以便汽化該反應(yīng)層。
11.權(quán)利要求10的方法,其中以氣態(tài)供應(yīng)所述氟基氣體。
12.權(quán)利要求10的方法,其中所述氟基氣體的供應(yīng)包括:利用微波在預(yù)處理艙外激勵(lì)氟基氣體,以便誘發(fā)等離子態(tài),將等離子態(tài)的氟基氣體引導(dǎo)到襯底上。
13.權(quán)利要求10的方法,其中所述氟基氣體選自由NF3、SF3和ClF6構(gòu)成的組。
14.權(quán)利要求10的方法,其中所述清潔步驟包括:以10-2,000sccm的速率供應(yīng)作為反應(yīng)氣體的氮?dú)夂鸵?-200sccm的速率供應(yīng)作為反應(yīng)氣體的氫氣,以及以10-300sccm的速率供應(yīng)作為反應(yīng)氣體的氟基氣體,用500-2,000W功率的微波激勵(lì)這些氣體,保持等離子體預(yù)處理艙中的壓力為0.1-10乇,將襯底的溫度調(diào)節(jié)到0-50℃。
15.權(quán)利要求10的方法,其中所述清潔步驟包括:當(dāng)供應(yīng)氣體以引起所述的化學(xué)反應(yīng)時(shí),將半導(dǎo)體襯底定位在預(yù)處理艙的下部,當(dāng)進(jìn)行退火時(shí),將該襯底定位在預(yù)處理艙的上部。
16.權(quán)利要求10的方法,其中所述退火包括將半導(dǎo)體襯底加熱到100-500℃的范圍內(nèi)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于三星電子株式會(huì)社,未經(jīng)三星電子株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/01139609.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 氫燃料制造系統(tǒng)、氫燃料制造方法以及氫燃料制造程序
- 單元控制系統(tǒng)、生產(chǎn)系統(tǒng)以及控制方法
- 制造裝置及制造方法以及制造系統(tǒng)
- 一種三相異步電動(dòng)機(jī)制造工藝方法
- 制造設(shè)備、制造裝置和制造方法
- 用于監(jiān)測(cè)光學(xué)鏡片制造過(guò)程的方法
- 產(chǎn)品的制造系統(tǒng)、惡意軟件檢測(cè)系統(tǒng)、產(chǎn)品的制造方法以及惡意軟件檢測(cè)方法
- 一種面向制造服務(wù)的制造能力評(píng)估方法
- 一種基于云制造資源的制造能力建模方法
- 制造設(shè)備系統(tǒng)、制造設(shè)備以及制造方法
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





