[發(fā)明專利]光學(xué)拾取頭裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 01132955.6
• 申請日: 1998-03-28
• 公開（公告）號: CN1347096A
• 公開（公告）日: 2002-05-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉長勛;李哲雨
• 申請（專利權(quán)）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G11B7/12
• 分類號: G11B7/12;G11B7/135;G02B3/08
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所
• 代理人: 李曉舒

1、一種可適用不同類型光記錄載體的光學(xué)拾取頭裝置，采用特定波長的光束記錄或/和讀取信息，其特征在于，所述裝置包括：

發(fā)出特定波長光束的光源；

用于將所述光源發(fā)出的光束聚焦于光記錄載體信息記錄面的物鏡，該物鏡以其光軸為中心包含內(nèi)區(qū)、圍繞內(nèi)區(qū)的環(huán)形全息環(huán)區(qū)及環(huán)繞該環(huán)形全息環(huán)周邊的外區(qū)，所述的環(huán)形全息環(huán)區(qū)由多個具有一定深度的環(huán)形溝槽構(gòu)成；

用以變換將光源發(fā)出的光引向物鏡并從光記錄載體信息記錄面反射的光束光路的光學(xué)元件；

光電探測器，用以檢測自上述光學(xué)元件入射的光束中的光學(xué)信息；

并且，聚焦于所述光記錄載體信息記錄面的光束斑至少包含所述物鏡內(nèi)區(qū)及環(huán)形全息環(huán)區(qū)入射的光束。

2、如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡的環(huán)形全息環(huán)具有與物鏡相同的光軸，并且具有與物鏡表面相同的曲率。

3、如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡的環(huán)形全息環(huán)設(shè)置于與數(shù)值孔徑在0.3至0.5范圍內(nèi)所相應(yīng)的物鏡區(qū)域。

4、如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡的環(huán)形全息環(huán)具有全息圖案的結(jié)構(gòu)。

5、如權(quán)利要求4所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡環(huán)形全息圖具有通過刻蝕形成或者通過金屬模塑制成的深度恒定的槽線。

6、如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡的環(huán)形全息環(huán)根據(jù)入射光束的波長調(diào)節(jié)物鏡的數(shù)值孔徑NA。

7、如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡的環(huán)形全息環(huán)具有負光焦度并采用了移相全息圖結(jié)構(gòu)。

8、如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡的環(huán)形全息環(huán)根據(jù)入射光束的波長產(chǎn)生相位變化。

9、如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡與光記錄載體之間的工作距離與光記錄載體厚度相關(guān)，并具有相應(yīng)的工作距離。

10、如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡的全息環(huán)區(qū)對特定波長的入射光束的相位改變量與構(gòu)成該全息環(huán)區(qū)的溝槽深度相關(guān)。

11、如權(quán)利要求1至10中任一項所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡的環(huán)形全息環(huán)根據(jù)入射光束的波長發(fā)生衍射。

12、如權(quán)利要求1至10中任一項所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于，當所述的光記錄載體為較厚光盤時，聚焦于光記錄載體信息記錄面的光束斑為由所述物鏡的內(nèi)區(qū)及環(huán)形全息環(huán)區(qū)入射的光束。

13、如權(quán)利要求1至10中任一項所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于，當所述的光記錄載體為較薄光盤時，聚焦于光記錄載體信息記錄面的光束斑為由所述物鏡的內(nèi)區(qū)、環(huán)形全息環(huán)區(qū)及外區(qū)所透過的光。

14、如權(quán)利要求1至10中任一項所述的光學(xué)拾取頭裝置，其特征在于，所述的光源包括發(fā)出較短波長光束的用于較薄光記錄載體的第一光源及發(fā)出較長波長光束的用于較厚光記錄載體的第二光源。