[發明專利]光學拾取頭裝置

有效

• 申請號: 01132951.3
• 申請日: 1998-03-28
• 公開（公告）號: CN1347094A
• 公開（公告）日: 2002-05-01
• 發明（設計）人: 劉長勛;李哲雨
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G11B7/12
• 分類號: G11B7/12;G11B7/135;G02B3/08
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所
• 代理人: 李曉舒

1、一種可適用不同類型光記錄載體的光學拾取頭裝置，采用特定波長的光束記錄或/和讀取信息，其特征在于，所述裝置包括：

發出特定波長光束的光源；

用于將所述光源發出的光束聚焦于光記錄載體信息記錄面的物鏡，該物鏡具有環形全息環區，該全息環區改變所述光源發出的入射光束的相位，以減小物鏡聚焦于光記錄載體信息記錄面的束斑球差；

用以變換將光源發出的光引向物鏡并從光記錄載體信息記錄面反射的光束光路的光學元件；

光電探測器，用以檢測自上述光學元件入射的光束中的光學信息。

2、如權利要求1所述的光學拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡的環形全息環具有與物鏡相同的光軸，并且具有與物鏡表面相同的曲率。

3、如權利要求1所述的光學拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡的環形全息環設置于與數值孔徑在0.3至0.5范圍內所相應的物鏡區域。

4、如權利要求1所述的光學拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡的環形全息環具有全息圖案的結構。

5、如權利要求4所述的光學拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡環形全息圖具有通過刻蝕形成或者通過金屬模塑制成的深度恒定的槽線。

6、如權利要求1所述的光學拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡的環形全息環區為由多個具有一定深度的環形溝槽構成。

7、如權利要求1所述的光學拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡的環形全息環根據入射光束的波長調節物鏡的數值孔徑NA。

8、如權利要求1所述的光學拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡的環形全息環具有負光焦度并采用了移相全息圖結構。

9、如權利要求1所述的光學拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡的環形全息環根據入射光束的波長產生相位變化。

10、如權利要求9所述的光學拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡對于光源發出的較短波長光束產生360°相位，而對于較長波長的光束產生180°相位。

11、如權利要求10所述的光學拾取頭裝置，其特征在于，所述光束的較短波長為650nm，而所述的較長波長為780nm。

12、如權利要求1所述的光學拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡與光記錄載體之間的工作距離與光記錄載體厚度相關，并具有相應的工作距離。

13、如權利要求1所述的光學拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡的全息環區對特定波長的入射光束的相位改變量與構成該全息環區的溝槽深度相關。

14、如權利要求1至13中任一項所述的光學拾取頭裝置，其特征在于，所述物鏡將光源發出的光束聚焦于光記錄載體的信息記錄面時，所形成的光束斑包含由所述物鏡的內區及圍繞該內區的環形全息環區所透過的光。

15、如權利要求14所述的光學拾取頭裝置，其特征在于，透過所述物鏡環形全息環區的光束是被衍射的。

16、如權利要求14所述的光學拾取頭裝置，其特征在于，所述的光記錄載體為較薄光盤時，所形成的光束斑還包括由所述物鏡的外區所透過的光。

17、如權利要求14所述的光學拾取頭裝置，其特征在于，所述的光源包括發出較短波長光束的用于較薄光記錄載體的第一光源及發出較長波長光束的用于較厚光記錄載體的第二光源。