[發明專利]液晶盒厚度檢測方法、液晶盒厚度控制系統及液晶裝置制造方法

無效

• 申請號: 01132511.9
• 申請日: 2001-08-31
• 公開（公告）號: CN1340690A
• 公開（公告）日: 2002-03-20
• 發明（設計）人: 黑巖雅宏
• 申請（專利權）人: 精工愛普生株式會社
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06;G02F1/1339
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 王岳,張志醒

1、一種液晶盒厚度檢測方法，用來檢測將2塊襯底粘貼在一起并在該襯底間配置液晶層的液晶面板的液晶盒厚度，其特征在于：

設定依次通過第1偏振光裝置、上述液晶層和第2偏振光裝置的光路，

對通過該光路的光進行分光，

求出上述光的分光光譜中的能得到極小值或極大值的波長或頻率或與它們相關的對應值的檢測值，

根據該檢測值得出上述液晶盒厚度。

2、權利要求1的液晶盒厚度檢測方法，其特征在于：在上述分光光譜中能得到極小值或極大值的波長或頻率是可見光區域內的波長或頻率。

3、權利要求1或2的液晶盒厚度檢測方法，其特征在于：通過上述光路的光的光源在至少與上述檢測值對應的波長區域內具有連續的發光光譜。

4、一種液晶盒厚度控制系統，用來控制將2塊襯底粘貼在一起并在該襯底間配置液晶層的液晶面板的液晶盒厚度，其特征在于，具有：

對上述液晶面板施加受控制的壓力的加壓裝置；

具有依次通過第1偏振光裝置、上述液晶層和第2偏振光裝置的光路的檢測光學系；

對從該檢測光學系導出的光進行分光的分光裝置；

根據該分光裝置的輸出求出從上述檢測光學系得到的光的分光光譜中的能得到極小值或極大值的波長或頻率或與它們相關的對應值的檢測值的檢測值導出裝置；

控制上述加壓裝置的壓力使上述檢測值接近與上述液晶盒厚度的目標值對應的值的控制裝置。

5、權利要求4的液晶盒厚度控制系統，其特征在于：在上述分光光譜中能得到極小值或極大值的波長或頻率是可見光區域內的波長或頻率。

6、權利要求4或5的液晶盒厚度控制系統，其特征在于：通過上述光路的光的光源在至少與上述檢測值對應的波長區域內具有連續的發光光譜。

7、權利要求4至6的任何一項的液晶盒厚度控制系統，其特征在于：上述控制裝置根據預先設定的上述檢測值或對應于上述檢測值的液晶盒厚度的變化量和對上述液晶面板施加的壓力的關系控制上述加壓裝置。

8、權利要求4至7的任何一項的液晶盒厚度控制系統，其特征在于上述加壓裝置包括：至少一方具有透光性且將上述液晶面板夾在中間的相互對置的一對夾持部件；

密封該一對夾持部件和上述液晶面板之間的間隙的密封裝置；

以受控制的壓力向上述一對夾持部件和上述液晶面板之間的間隙供給流體的流體供給裝置。

9、一種液晶裝置的制造方法，通過密封材料將2塊襯底粘貼在一起并在該襯底間配置液晶層而形成液晶面板，其特征在于：

設定依次通過第1偏振光裝置、上述液晶層和上述第2偏振光裝置的光路；

對通過上述光路的光進行分光；

求出上述光的分光光譜中的能得到極小值或極大值的波長或頻率或與它們相關的對應值的檢測值，

根據該檢測值對上述液晶面板進行加壓，并進行調整，使上述檢測值與和上述液晶盒厚度的目標值對應的值大致一致。

10、權利要求9的液晶裝置的制造方法，其特征在于：在上述分光光譜中能得到極小值或極大值的波長或頻率是可見光區域內的波長或頻率。

11、權利要求9和10任何一項的液晶裝置的制造方法，其特征在于：在向上述液晶面板內注入液晶后，根據上述檢測值對上述液晶面板進行加壓，在調整壓力使上述檢測值與和上述液晶盒厚度的目標值對應的值大致一致的狀態下密封上述液晶。

12、一種液晶盒厚度檢測方法，用來檢測將2塊襯底對置并在該襯底間配置液晶層的液晶面板的液晶盒厚度，其特征在于：

設定依次通過第1偏振光裝置、上述液晶層和第2偏振光裝置的光路，

對通過該光路的光進行分光，

在上述光的分光光譜中，將能得到極小值或極大值的波長或頻率作為檢測值求出，

根據該檢測值得出上述液晶盒厚度。

13、一種液晶盒厚度檢測方法，用來檢測將2塊襯底對置并在該襯底間配置液晶層的液晶面板的液晶盒厚度，其特征在于：

設定依次通過第1偏振光裝置、上述液晶層和第2偏振光裝置的光路，

對通過該光路的光進行分光，

在上述光的分光光譜中，將與能得到極小值或極大值的波長或頻率相關的對應值作為檢測值求出，

根據該檢測值得出上述液晶盒厚度。