[發明專利]芯片部件供給裝置無效
| 申請號: | 01129657.7 | 申請日: | 2001-06-27 |
| 公開(公告)號: | CN1336794A | 公開(公告)日: | 2002-02-20 |
| 發明(設計)人: | 森健 | 申請(專利權)人: | 阿爾卑斯電氣株式會社 |
| 主分類號: | H05K13/02 | 分類號: | H05K13/02;H05K3/30 |
| 代理公司: | 北京三幸商標專利事務所 | 代理人: | 劉激揚 |
| 地址: | 日本國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 芯片 部件 供給 裝置 | ||
1.一種芯片部件供給裝置,該供給裝置具有容納芯片部件的容納部的容納裝置;設置在上述容納部的底部上的、芯片部件因自重而從其內落下的插入孔;以及配設在上述容納部的上述底部上的翻動部件,其特征在于上述翻動部件的一部分露出于上述底部,并以上述插入孔為軸心作轉動,因上述翻動部件的轉動而翻動芯片部件,使芯片部件通過上述插入孔落下。
2.根據權利要求1所述的芯片部件供給裝置,其特征在于從上述底部露出的上述翻動部件的上面設置了從上述插入孔的中心向芯片部件的容納側上方逐漸傾斜的錐體。
3.根據權利要求1或2所述的芯片部件供給裝置,其特征在于具有帶筒狀部的支持部件,在上述筒狀部的中心位置設上述插入孔,且上述翻動部件在上述筒狀部的周圍轉動。
4.根據權利要求1或2所述的芯片部件供給裝置,其特征在于在上述翻動部件的中心上設上述插入孔。
5.根據權利要求1~4中任何一個所述的芯片部件供給裝置,其特征在于還具有構成上述容納裝置一部分的接受部件,在該接受部件的上面設從上述插入孔中心向芯片部件的容納側上方逐漸傾斜的漏斗。
6.根據權利要求5所述的芯片部件供給裝置,其特征在于在上述接受部件上設容納上述翻動部件的凹部,由上述接受部件阻擋上述翻動部件從上方脫出。
7.根據權利要求1~6中任何一個所述的芯片部件供給裝置,其特征在于利用空氣的流動或電機使上述翻動部件轉動。
8.根據權利要求7所述的芯片部件供給裝置,其特征在于在上述翻動部件的外周面上設置有凹凸部,使流動狀態的空氣作用到上述凹凸部上,從而使上述翻動部件轉動。
9.根據權利要求7或8所述的芯片部件供給裝置,其特征在于在帶容納上述翻動部件的凹部的接受部件和與該接受部件重合的支持部件之間形成空氣流入口2e和排出口2f。
10.根據權利要求7或者8或9所述的芯片部件供給裝置,其特征在于將上述空氣流入口和上述排出口呈直角狀配置。
11.根據權利要求1~10中任何一個所述的芯片部件供給裝置,其特征在于對上述插入孔配置可開關的閥門。
12.一種芯片部件供給裝置,該供給裝置包括:具有容納芯片部件的容納部的容納裝置,設置在上述容納部的底部上的、芯片部件因自重而從其內落下的插入孔以及配設在該插入孔下部的、開關上述插入孔的閥門,其特征在于上述閥門是通過空氣的作用進行工作來開關上述插入孔。
13.根據權利要求12所述的芯片部件供給裝置,其特征在于上述閥門長時間地受彈簧部件彈力作用,因空氣流入造成的加壓、該加壓的解除或者加壓衰減使上述閥門移動。
14.根據權利要求12所述的芯片部件供給裝置,其特征在于上述閥門長時間地受彈簧部件彈力作用,因空氣吸收造成的負壓、該負壓的解除或者負壓衰減使上述閥門移動。
15.根據權利要求12~14中任何一個所述的芯片部件供給裝置,其特征在于還具有保持上述閥門的保持部件,且在該保持部件上設置了容納上述閥門的容納部和使空氣出入的空腔。
16.根據權利要求15所述的芯片部件供給裝置,其特征在于在上述空腔內設置了可移動的可動體,空氣的作用經上述可動體傳送給上述閥門。
17.根據權利要求15或16所述的芯片部件供給裝置,其特征在于上述保持部件在偏離上述插入孔下部的位置上具有部件排出口,而且通過上述閥門的往返移動放出每一個芯片部件C,從上述插入孔落下的芯片部件從上述部件排出口每次排出一個。
18.根據權利要求12~17中任何一個所述的芯片部件供給裝置,其特征在于上述翻動部件以上述插入孔為軸心可轉動地配置在上述容納部的底部上,且其局部露出上述容納部的底部,對芯片部件C進行翻動的上述翻動部件受空氣作用而轉動。
19.根據權利要求18所述的芯片部件供給裝置,其特征在于在露出上述底部的上述翻動部件的上面設置了從上述插入孔的中心向芯片部件的容納側上方逐漸傾斜的錐體。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于阿爾卑斯電氣株式會社,未經阿爾卑斯電氣株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/01129657.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:用于調節磁頭單元角位置的方法和裝置
- 下一篇:用于半導體測試系統的模式發生器





