[發明專利]一種互補金屬氧化物半導體圖像傳感器及其驅動方法有效
| 申請號: | 01129269.5 | 申請日: | 2001-06-19 |
| 公開(公告)號: | CN1330411A | 公開(公告)日: | 2002-01-09 |
| 發明(設計)人: | 李瑞圭 | 申請(專利權)人: | 皮克斯爾普拉斯有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/146 | 分類號: | H01L27/146;H01L27/092 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 互補 金屬 氧化物 半導體 圖像傳感器 及其 驅動 方法 | ||
本發明涉及一種圖像傳感器,尤其是指一種由互補金屬氧化物半導體(CMOS)像素構成的圖像傳感器及其驅動方法。
圖像傳感器通過利用半導體材料的能量響應特性攝取圖像,以探測能量(例如光)。一般說來傳感器可以分成兩類:一類為CMOS圖像傳感器,另一類為電荷耦合器件(CCD)圖像傳感器。CMOS圖像傳感器可以由單一電源驅動,因此,與CCD圖像傳感器相比,CMOS圖像傳感器具有耗電省及體積小的優點。所以CMOS圖像傳感器較為常用。
圖1顯示了一種傳統的圖像傳感器。傳統的CMOS圖像傳感器含有一個像素傳感器101及一個雙取樣電路103。根據傳統的圖像傳感器,當復位信號RS達到邏輯“高”時,則復位晶體管101a導通,節點N101上的電壓升高。然后經由驅動晶體管101c和選擇晶體管101d,復位數據(此時電壓約為VDD)傳輸至數據輸入/輸出(I/O)線DIO。如果當復位信號RS達到邏輯“低”以及控制信號TX達到邏輯“高”,則復位晶體管101a斷開,而傳輸晶體管101b導通。經由驅動晶體管101c和選擇晶體管101d,光電二極管101e中的信號數據傳輸至數據I/O線DIO。然后,傳輸至數據I/O線DIO的復位數據和信號數據被與數據I/O線DIO連接的雙取樣電路103完成取樣。
傳統的圖像傳感器中,信號數據完成取樣和輸出是在復位數據被取樣和輸出之后,所以信號數據往往在數據I/O線DIO中留存下來。
根據傳統的CMOS圖像傳感器,雙取樣電路103包括取樣晶體管103a、輔助電容103b、耦合電容103c及預充電晶體管103d。取樣晶體管103a將被取樣的信號數據從數據I/O線DIO中清除掉,從而通過輸出終端DQ就能產生一個電壓穩定的輸出信號Vout。輔助電容103b用來防止節點N103成為懸浮電壓。如果輔助電容103b未設置,則當取樣晶體管103a斷開時,節點N103處就成了懸浮電壓。輔助電容103b和耦合電容103c產生的有效電容量大約等于輸出電路105中的輸出電容105a的電容量。預充電晶體管103d使側端耦合電容103c以參考電壓VR預充電,該電壓低于(VDD-Vth)。
不過傳統的CMOS圖像傳感器也存在一個問題,即需要很大的配置面積。也就是說,其配置面積要容得下安裝取樣晶體管103a、輔助電容103b和產生參考電壓VR的參考電壓產生電路(圖中未畫出)。
為解決上述問題,本發明的主要目的在于提供一種CMOS圖像傳感器,使其配置面積減小。
本發明的另一個目的是提供一種該CMOS圖像傳感器的驅動方法。
為實現頭一個目標,本發明提供了一種信號數據輸出先于復位數據輸出的CMOS圖像傳感器,該CMOS圖像傳感器包括一個像素傳感器、一條數據I/O線、一個雙取樣電路和一個輸出電路。該像素傳感器產生信號數據和復位數據。該信號數據的電壓取決于所接收到的外來能量所誘發的光電荷總量,而復位數據則在復位模式下產生。數據I/O線傳輸信號數據和在像素傳感器中產生的復位數據。雙取樣電路將數據I/O線傳輸來的信號數據和復位數據完成取樣,并驅動輸出終端。在此情況下,該雙取樣電路將信號數據在復位數據之前完成取樣。輸出電路則輸出與輸出終端的電壓相關的數據。
為實現第二個目標,本發明提供了一種CMOS圖像傳感器的驅動方法,該CMOS圖像傳感器具備大量的以行列配置的像素傳感器,在復位模式期間產生復位數據,并產生信號數據,該信號數據取決于從外部能源接收到的能量所誘發的光電荷總量。本方法包括:(a)產生一個讀入信號,從而觸發一個行選擇信號來選擇行;(b)觸發一個數據輸出信號;(c)對數據輸出信號作出響應,輸出信號數據;(d)在步驟(c)之后啟動復位模式;(e)輸出復位數據。
有關本發明的上述目標及進一步的目標、特點和優點等,會由于以下的描述及相伴的附圖而變得更為清晰。附圖中的數碼標號與文中相同,表示相關的部件。
圖1表示傳統的CMOS圖像傳感器;
圖2為根據本發明優先實施例而畫出的介紹CMOS圖像傳感器的電路圖;
圖3為解釋本發明中CMOS圖像傳感器啟動后所提供或產生的主信號和節點電壓的同步信號圖。
圖2為根據本發明優先實施例考慮而畫出的介紹CMOS圖像傳感器的電路圖。參照圖2,CMOS圖像傳感器包括一個像素傳感器201、數據I/O線DIO、雙取樣電路203和輸出電路205。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





