[發(fā)明專(zhuān)利]鑄件內(nèi)部缺陷自動(dòng)分析識(shí)別裝置及其分析識(shí)別方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 01127801.3 | 申請(qǐng)日： | 2001-09-03 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN1140797C | 公開(kāi)（公告）日： | 2004-03-03 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 黃茜 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人： | 華南理工大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào)： | G01N23/04 | 分類(lèi)號(hào)： | G01N23/04;G06K9/00 |
| 代理公司： | 廣州粵高專(zhuān)利代理有限公司 | 代理人： | 李衛(wèi)東 |
| 地址： | 51064*** | 國(guó)省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 鑄件 內(nèi)部 缺陷 自動(dòng) 分析 識(shí)別 裝置 及其 方法 | ||
【權(quán)利要求書(shū)】：
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
