[發(fā)明專利]伸長(zhǎng)的線狀缺陷的定位

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 01125205.7
• 申請(qǐng)日: 2001-08-09
• 公開（公告）號(hào): CN1337594A
• 公開（公告）日: 2002-02-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: N·D·卡希爾;J·P·斯彭斯
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 伊斯曼柯達(dá)公司
• 主分類號(hào): G03B17/24
• 分類號(hào): G03B17/24;G03B27/80;G03C1/005
• 代理公司: 中國(guó)專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 吳增勇,陳景峻

發(fā)明領(lǐng)域

本發(fā)明涉及攝影，更具體地說(shuō)涉及數(shù)字照相加工應(yīng)用中照相材料上的伸長(zhǎng)的線狀缺陷的定位。

背景技術(shù)

照相材料(如膠片)上圖像的掃描再現(xiàn)中通常會(huì)出現(xiàn)伸長(zhǎng)的線狀缺陷。這種缺陷包括，但不限于劃痕，坑缺，沖洗拖痕，涂層的條痕，涂層的波紋，掃描儀的缺陷等。例如，制造照相材料時(shí)，涂層加工時(shí)的缺陷可能會(huì)導(dǎo)致沿照相材料的縱向的影響一個(gè)或多個(gè)感光層的狹長(zhǎng)區(qū)域，被稱為條痕。因?yàn)檫@個(gè)或這些受影響的層的原因，在此條痕區(qū)域中的感光材料和/或聯(lián)結(jié)劑的量上存在了變化。這種變化本身體現(xiàn)在條痕區(qū)域的異常特征數(shù)據(jù)。在第二實(shí)例中，照相機(jī)中的塵粒可能會(huì)導(dǎo)致當(dāng)送片通過(guò)塵粒上時(shí)因壓力敏感的作用而形成表現(xiàn)為伸長(zhǎng)的線狀缺陷的可顯影潛像。

在本領(lǐng)域中，已知的是利用在膠卷上曝光的校準(zhǔn)補(bǔ)片來(lái)實(shí)現(xiàn)光學(xué)沖印時(shí)更佳的曝光控制。有關(guān)范例，參見一九九八年六月十六日授予Terashita的美國(guó)專利5,767,983。還可見到，參考校準(zhǔn)補(bǔ)片的運(yùn)用在確定數(shù)字印刷中所用的掃描膠片數(shù)據(jù)的校準(zhǔn)值方面的是很有用的。例如，參見一九九七年九月十六日授予Reem等人的美國(guó)專利5,667,944以及一九九七年七月十五日授予Wheeler等人美國(guó)專利5,649,260。

雖然伸長(zhǎng)的線狀缺陷可能導(dǎo)致景象的圖像上的非期望的人為缺陷，但是當(dāng)這種缺陷發(fā)生在包含感光方式曝光的補(bǔ)片的參考校準(zhǔn)圖像時(shí)，它們的影響可能會(huì)更為有害。如果這種缺陷可以被檢測(cè)和查找到，則可以將圖像缺陷的位置饋送到預(yù)設(shè)來(lái)測(cè)量感光補(bǔ)片的軟件，以使這種軟件可以避免使用從缺陷區(qū)域所導(dǎo)出的數(shù)據(jù)或運(yùn)用適當(dāng)?shù)闹貥?gòu)技術(shù)來(lái)恢復(fù)受影響的數(shù)據(jù)。

在先有技術(shù)中，一九九八年四月七日授予Takada等人的美國(guó)專利5,736,996和一九九三年一月二十三日授予Ohtsubo等人的美國(guó)專利5,189,521描述了通過(guò)在記錄媒體上鋪設(shè)測(cè)試目標(biāo)來(lái)自動(dòng)檢測(cè)圖像的不均勻性的方法。但是，關(guān)注非均勻性的原本是記錄頭，而非記錄圖像的假定均勻的媒體。一旦檢測(cè)到非均勻性，記錄頭就自動(dòng)被校準(zhǔn)，以將均勻的密度傳送到記錄媒體，無(wú)論記錄頭中是否存在非均勻性。當(dāng)這種缺陷產(chǎn)生于記錄媒體中，而非記錄裝置時(shí)或發(fā)生在記錄步驟之后，此先有技術(shù)則無(wú)法修補(bǔ)這種非均勻性，因?yàn)闊o(wú)法在沖印參考校準(zhǔn)目標(biāo)時(shí)確定這些缺陷的位置和嚴(yán)重性。

Rafael?Gonzalez?and?Paul?Wintz，Addison-Wesley出版公司，Reading，MA，1997的《數(shù)字圖像處理》中所描述的查找數(shù)字圖像中的線狀對(duì)象的標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)，直觀圖像分段和說(shuō)明技術(shù)可以運(yùn)用來(lái)查找據(jù)稱為均勻的感光補(bǔ)片中的這種缺陷。但是，在具有呈現(xiàn)低信噪比的曝光量的補(bǔ)片中，這種檢測(cè)算法就崩潰了。無(wú)法檢測(cè)這種補(bǔ)片中的缺陷可能會(huì)導(dǎo)致補(bǔ)片的密度估算值或噪聲級(jí)別上的偏差。在校準(zhǔn)過(guò)程中使用訛誤的數(shù)據(jù)可能會(huì)以有害的形式影響整個(gè)圖像。再者，在高度結(jié)構(gòu)化的非均勻圖像(如二維條碼)中，這些標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)無(wú)法可靠地區(qū)分條碼部分和人為缺陷所導(dǎo)致的部分的線狀特征。

發(fā)明概述

因此，需要一種改進(jìn)的方法來(lái)檢測(cè)和查找照相材料的掃描圖像中的線狀缺陷。

根據(jù)本發(fā)明，滿足此要求的方法是：提出了一種查找照相材料上線狀缺陷的方法，所述材料具有有效的成像寬度和與所述材料的縱向一致的缺陷，所述方法包括下列步驟：使所述材料的一定區(qū)域曝光，以形成橫跨所述材料有效成像寬度的基本上均勻的潛像；將所述潛像顯影以產(chǎn)生密度信號(hào)；利用測(cè)光裝置對(duì)所述密度信號(hào)取樣；以及分析所取樣的密度數(shù)據(jù)，確定與所述材料縱向一致的顯著離差的存在，以查找所述缺陷。

附圖簡(jiǎn)介

圖1是包括根據(jù)本發(fā)明的缺陷檢測(cè)曝光的膠卷的示意圖；

圖2是包括根據(jù)本發(fā)明的用于缺陷檢測(cè)的方法的步驟的示意圖；以及

圖3是幫助討論根據(jù)本發(fā)明的分析步驟的示意圖。

實(shí)施例的詳細(xì)描述

根據(jù)本發(fā)明，對(duì)橫跨照相材料的典型曝光區(qū)域的寬度的區(qū)域(例如，膠卷上膠片幀的有效寬度)進(jìn)行充分均勻的曝光量的曝光。